什么是全譜直讀光譜儀？ 光學(xué)體系自動(dòng)正在譜線掃描，自動(dòng)光路校準(zhǔn)，確保譜線接受的正確性，免去瑣碎的波峰掃描職業(yè)。分外的啟發(fā)臺(tái)及氣氣路設(shè)計(jì)，大大下降了氣利用量。敏捷的樣品夾設(shè)計(jì)，以知足客戶現(xiàn)場(chǎng)的百般樣式巨細(xì)的樣品解析。
不增補(bǔ)硬件設(shè)施的境況下，可以完成多基體解析。比擬光電倍增管光譜儀可大大下降客戶利用老本及利用界線。采取國外起先進(jìn)的電極技巧。在啟發(fā)形態(tài)下，電極外圍會(huì)變成氣氣流，這么在啟發(fā)過程中啟發(fā)點(diǎn)外圍不會(huì)以及外界氛圍交鋒，提升啟發(fā)精度；配上獨(dú)享的光譜操控軟件無缺兼容于windows體系。同時(shí)不妨依據(jù)客戶需要配置百般話語版本。軟件操控簡(jiǎn)約即便沒有任何光譜儀學(xué)問及操控經(jīng)驗(yàn)的員工只有經(jīng)由簡(jiǎn)約的學(xué)問培訓(xùn)可以上手利用。
一、試樣表面要平整，當(dāng)試樣放在電極架上時(shí)，不能有漏氣現(xiàn)象。如有漏氣，激發(fā)時(shí)聲音不正常。
二、樣品與控制標(biāo)樣的磨紋粗細(xì)要一致，不能有交叉紋，直讀光譜儀，磨樣用力不要過大，而且用力要均勻，用力過大，容易造成試樣表面氧化。
三、對(duì)高鎳鉻鋼磨樣時(shí)，要使用新砂輪片磨樣，磨紋操作要求更嚴(yán)格。
四、試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試樣要有一定的代表性。
五、電極的應(yīng)具有一定角度，使光軸不偏離中心，放電間隙應(yīng)保持不變，否則聚焦在分光儀的譜線強(qiáng)度會(huì)改變。多次重復(fù)放電以后，直讀光譜儀，電極會(huì)長尖，改變了放電間隙。激發(fā)產(chǎn)生的金屬蒸氣也會(huì)污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極。
六、透鏡內(nèi)表面常常受到來自真空泵油蒸氣的污染，外表面受到分析時(shí)產(chǎn)生金屬蒸氣的附著，使透過率明顯降低，直讀光譜儀原理，對(duì)波長小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過率影響更顯著，所以聚光鏡要進(jìn)行定期清理。
七、真空度不夠高會(huì)降低分析靈敏度， 特別是波長小于200nm的元素更明顯， 為此要求真空度達(dá)0.05mmHg。
八、出射狹縫的位置變化受溫度的影響大，因此保持分光室內(nèi)恒溫30℃很重要，還要求室內(nèi)溫度保持一致，使出射狹縫不偏離正常。
在光譜分析中，為直接利用原始工作曲線，就需要定期用再校準(zhǔn)樣品對(duì)原分析曲線進(jìn)行重新校準(zhǔn)。當(dāng)采用兩點(diǎn)進(jìn)行再校準(zhǔn)時(shí)，所用兩塊再校準(zhǔn)樣品元素含量應(yīng)有足夠大的差異，并確保在元素分析范圍的和低端。事實(shí)上低端再校準(zhǔn)樣經(jīng)常就是采用“純”基體樣品，表示實(shí)際上只含有這種合金基體，其它元素成分含量應(yīng)為零、痕量或很少，國產(chǎn)直讀光譜儀，如校準(zhǔn)鐵基曲線時(shí)就用高純鐵樣品作低點(diǎn)。從理論上講，這樣的兩個(gè)樣品足以使儀器再標(biāo)準(zhǔn)化。然而在實(shí)際工作中，為了保證儀器精度，一般不可能只用兩塊再校準(zhǔn)樣品就能全部涵蓋所有待測(cè)元素的和低端，因此往往需要更多數(shù)量的樣品用于再校準(zhǔn)。另一方面，再校準(zhǔn)程序能夠用于一種以上的合金，原則上可用于一組合金，這時(shí)采用多點(diǎn)再校準(zhǔn)就更為便捷、有效。
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發(fā)布時(shí)間：2021-02-28 01:04