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一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
選擇Elite(一六儀器)X射線熒光鍍層測(cè)厚儀理由:
根據(jù)IPC規(guī)程,必須使用整塊的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)校正儀器,對(duì)于多鍍層的測(cè)量,目前大多數(shù)客戶購(gòu)買的測(cè)厚儀采用的是多種箔片疊加測(cè)量校正,比如測(cè)量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因?yàn)闇y(cè)量點(diǎn)很小,測(cè)量距離的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果有較大影響,如果使用Au,Pd,Ni三種箔片疊加校正,校正的時(shí)候箔片之間是有空氣,并且Pb元素與空氣的頻譜重疊,以上會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響,Elite(一六儀器)測(cè)厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標(biāo)準(zhǔn)片,不需要幾種箔片疊加校正,可以確保鍍層測(cè)量的準(zhǔn)確性。
2、采用微聚焦X射線管,油槽式設(shè)計(jì),工作時(shí)采用油冷,長(zhǎng)期使用時(shí)壽命更長(zhǎng)。微聚焦X射線管配合比例接收能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,可以進(jìn)行測(cè)量。
3、Elite(一六儀器)WinFTM專用軟件,具有強(qiáng)大且界面友好、中英文切換,多可同時(shí)測(cè)量23層鍍層,24種元素,測(cè)量數(shù)據(jù)可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。采用基本參數(shù)法(FP),有內(nèi)置頻譜庫(kù),無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確的分析和測(cè)量。
4、 Elite(一六儀器)針對(duì)PCB(印制電路板)線路板上的鍍層厚度及分析而設(shè)計(jì)的X射線熒光測(cè)厚儀(XDLM-PCB200/PCB210系列)具有以下特點(diǎn):1)工作臺(tái)有手動(dòng)和程序控制供客戶選擇,2)采用開槽式設(shè)計(jì)和配置加長(zhǎng)型樣品平臺(tái),用于檢測(cè)大尺寸的線路板。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們**的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。
一. 磁吸力測(cè)量原理鍍層厚度分析儀
長(zhǎng)久磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。
江蘇一六儀器 **涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。
單鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,涂層測(cè)厚儀,Ag,Au,Sn等。
雙鍍層:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、功能
1. 采用 X 射線熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測(cè)量方法滿足
GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。
2. 鍍層層數(shù):多至 5 層。
3. 測(cè)量點(diǎn)尺寸:圓形測(cè)量點(diǎn),直徑約 0.2—0.8毫米。
4. 測(cè)量時(shí)間:通常 30 秒。
5. 測(cè)量誤差:通常小于 5%,視樣品具體情況而定。
6. 可測(cè)厚度范圍:通常 0.01 微米到 30 微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
企業(yè): 江蘇一六儀器有限公司
手機(jī): 18994336605
電話: 0512-57757039
地址: 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)成功路168號(hào)