江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產、銷售的高新技術企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們**的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經驗，經與海內外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領域。

熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素量分析。但是由于影響熒光X射線的強度的因素較多，除待測元素的濃度外，儀器校正因子，待測元素X射線熒光強度的測定誤差，光譜測厚儀，元素間吸收增加效應校正，樣品的物理形態(tài)（如試樣的均勻性、厚度，表面結構等）等都對定了分析結果產生影響。由于受樣品的基體效應等影響較大，因此，對于標注樣品要求很嚴格，只有標準樣品與實際樣品集體和表面狀態(tài)相似，才能保證定量結果的準確性。

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層，熒光測厚儀，24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀可調整測量位置，非常敏捷快速?；蚴菧y量位置已完成登陸時，可連續(xù)自動測定，利用座標補正、連結頻道，膜厚測試儀，來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。

　　測定部顯示盡像的表示：X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置，可由倍率率更機能來實現盡面上測出物放大。。。

一六儀器 **測厚儀 多道脈沖分析采集，先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件，LED和照明，家用電器，舟山測厚儀，通訊，汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

軟件算法

?大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法（經驗系數法）。這個方法是測定幾點實際的已知厚度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和厚度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

?另一個方法是理論演算的基礎參數法（FP法）。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的。基于此再計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強。它與經驗系數法不同，這些校正系數是從“理論”上取得的，而非建立在“經驗”上。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數標樣來校準儀器因子。

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