江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進(jìn)行分析的一種常見分析儀器。通常認(rèn)為X區(qū)域0.01-10nm之間的一段電磁波譜，短波邊以伽馬射線為界，長波邊與真空紫外線區(qū)域的實(shí)際界線。

X射線熒光光譜儀特點(diǎn)

1、一種真正意義上 的無損分析，在分過程中不會(huì)改變樣品的化學(xué)形態(tài)。具有不污染、節(jié)能低耗等優(yōu)點(diǎn)。

2、分析速度快，無須進(jìn)行樣品預(yù)處理，升值無須樣品的制備，嘉興測(cè)厚儀，X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。一般情況下檢測(cè)在3分鐘以下。

3、自動(dòng)化程度高。

4、可以同時(shí)測(cè)定樣品中的多種元素。

5、隨著分析技術(shù)的發(fā)展，儀器可以滿足很多行業(yè)的需求。如：地質(zhì)礦產(chǎn)，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業(yè)。

6、樣品的形態(tài)廣。

7、X射線熒光光譜儀分為波長色散譜儀和能量色散譜儀可以滿足各行個(gè)元素的需求。

8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。

一六儀器 **測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集，熒光測(cè)厚儀，先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國際化，鍍層膜厚儀，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

      電鍍液測(cè)量杯整套含兩個(gè)測(cè)量杯，可用于多品牌X-RAY測(cè)厚儀上使用，高純?cè)乇镜滋岣邷y(cè)量精度和檢出限。電鍍液測(cè)試樣品杯，嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理，用來測(cè)試溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡捷，無污染。

測(cè)試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，鍍層分析儀，XRF測(cè)試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測(cè)膜，光譜儀樣品薄膜；是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡捷，無污染的測(cè)試用樣品薄膜，廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。

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