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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
偏光計(jì)測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強(qiáng)度pattern,因與以往的偏光計(jì)測裝置相比,rets-100設(shè)備,其無偏光子回旋機(jī)構(gòu),故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。
因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置,作為設(shè)置場所,請考慮以下條件。萬一,下記條件未被滿足的場合,rets軸角測試,本系統(tǒng)的性能有可能無法發(fā)揮其100%.請注意。
本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell(TN,rets,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí),rets-100偏光膜測試,自動set基準(zhǔn)sample。
本軟件,通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動XY平臺來實(shí)施cellgap檢查每個(gè)樣品都備有檢查菜單,并且樣品可自動運(yùn)輸,操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。
本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型X-Y平臺以及偏光光學(xué)系,測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角(含MVA)的系統(tǒng)。
本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD,測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個(gè)Sample品種,會準(zhǔn)備Recipe(測量條件File)所以O(shè)perator 放置Sample后,選擇Recipe,即可實(shí)現(xiàn)測量。
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