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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備,日本大塚電子;
FPD相關(guān)的檢查和評價設(shè)備:
動態(tài)畫面反應(yīng)時間檢測儀:MPRT-2000,
相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備:RETS-100,rets-100測試儀,
發(fā)貨OTSUKA,rets偏光膜測試,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200;
本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型X-Y平臺以及偏光光學(xué)系,測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角(含MVA)的系統(tǒng)。
本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD,測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種,會準(zhǔn)備Recipe(測量條件File)所以O(shè)perator 放置Sample后,rets,選擇Recipe,大塚rets,即可實現(xiàn)測量。
相位差光學(xué)材料量
產(chǎn)品特點:可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm~)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀,展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。
光學(xué)薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學(xué)資料
■液晶層
?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)
?反射型液晶層(TN,STN)
企業(yè): 大塚電子(蘇州)有限公司
手機: 13049398933
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