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rets相位差光學材料量
產品特點:可更加精準的量測低相位差(0.1nm~)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀,大塚rets,展現任一個波長的相位差量測??蛇x配傾斜式、旋轉式量測平臺,評估三次元折射率參數分析等眼簾角特性。共同量測樣品,rets偏光膜測試,從容架構量測平臺。
本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell(TN,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉stage的2個Sample stage。Calibration時,自動set基準sample。
本軟件,通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動XY平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單,并且樣品可自動運輸,操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
什么是液晶分子預傾角以及液晶分子預傾角對電光特性的影響,說明了精準測量液晶分子預傾角對現有液晶顯示器生產和進一步研究液晶顯示技術有著重要的意義。緊接著文章對現有的液晶分子預傾角測量方法進行了概述,并且給出了幾種創(chuàng)新性的測量方法。 晶體旋轉法是目前廣泛使用的方法,rets,它測試精度高,測試速度快,得到人們的認可。
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