用基準Sample實施設備，偏光prism unit的角度校正和基準Sample自身的Retardation測量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時進行。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計測模組和透過偏光光學系相結(jié)合進行測定橢圓率，rets相位差膜測試，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，rets軸角測試，進而演算其吸收軸，光軸，相對角、RE的裝置。

相位差光學材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關于顏色

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

4、關于客服

客戶全天24小時在線，如需緊急處理，rets設備，請致電公司 。

5、關于售后

日本產(chǎn)品保修一年，rets，消耗品不再維修范圍內(nèi)。

本設備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

  本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準備Recipe（測量條件File）所以Operator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現(xiàn)測量。

rets相位差膜測試-大塚電子(在線咨詢)-rets由大塚電子(蘇州）有限公司提供。大塚電子(蘇州）有限公司擁有很好的服務與產(chǎn)品，不斷地受到新老用戶及業(yè)內(nèi)人士的肯定和信任。我們公司是商盟認證會員，點擊頁面的商盟客服圖標，可以直接與我們客服人員對話，愿我們今后的合作愉快！