影響膜厚測量儀的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導(dǎo)電性對測量有影響，而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)儀器。

基體金屬厚度

每個儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對測量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測量彎曲試樣的表面是不可靠的。

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光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供豐富選配套件以及客制化光纖。可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計?？伸`活架設(shè)于各種環(huán)境下的i佳即時量測系統(tǒng)。

膜厚測量儀的維護(hù)與保養(yǎng)

1、該儀器應(yīng)防止?jié)駳狻⑦^熱和接觸腐蝕性氣體和液體。

2、不能搖動或拉動探頭線。

3、儀器應(yīng)保持清潔。

4、當(dāng)儀器不長時間使用時，MCPD透過率測試，應(yīng)清除電池。

5、當(dāng)測量異常時，MCPD，應(yīng)處理如下：

A：檢查電壓是否正常，電池正負(fù)極是否良好接觸。

B：測量方法是否正確。

C：工廠主要故障輸送設(shè)備或維修部門。

D：每次使用時，你必須先插入探頭，然后打開機(jī)器。否則，儀器不進(jìn)行自檢。

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