大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

電氣浸透流實測的優(yōu)點

所謂電氣浸透流指的是ZETA電位測量中，在cell內(nèi)引起的溶液的流動的現(xiàn)象。如果cell壁面帶電，ELSZ粒度儀，溶液中的對離子會集中到cell壁面。

如果帶有電場，對離子會集中到反向符號的電極側(cè)。為了填補其流動，在cell中央附近區(qū)域會出現(xiàn)逆流現(xiàn)象。

實測粒子表面的電氣泳動移動速度，通過解析電氣浸透流，求出正確的靜止面，ELSZ粒子直徑測試，當(dāng)然此靜止面已包括了樣品的吸附或沈降等的cell污跡的影響，然后求出真正的ZETA電位?電氣泳動移動度。 

適用于界面化學(xué)、無機物、半導(dǎo)體、高分子、生物、藥學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究。

新功能性材料領(lǐng)域

燃料電池相關(guān)（碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬）

生物納米相關(guān)（納米、人造分子、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡等

用途：

半導(dǎo)體領(lǐng)域

查明附著在硅體晶圓的異物的結(jié)構(gòu)

研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究

CMP懸濁液

分子量測量原理：靜的光散射法（光子相關(guān)法）

靜的光散射法作為簡便的測量分子量的手法而被人們熟知。

測量原理指的是用光照射溶液中分子，根據(jù)所得的散射光的求出分子量。即，利用了大分子所得散射光強，小分子所得散射光弱的現(xiàn)象進行測量。

實際上，濃度不同，所得的散射光強度也不同。因此，要實測數(shù)點的不同濃度的溶液散射強度，并根據(jù)以下公式，大塚ELSZ，橫軸設(shè)為濃度，縱軸設(shè)為散射強度的倒數(shù)，

Kc／R（θ）為plot。這被稱作Debye plot。

濃度為零，外插切片（c=0）的倒數(shù)，并求出分子量Mw，根據(jù)初期斜面求出第二維里系數(shù)A2。

分子量為大分子時，ELSZ，散射強度出現(xiàn)角度依存性，通過測量不同的散射角度（θ）的散射強度，可知出分子量的測量精度提高，及分子大范圍的指標(biāo)的慣性半徑。

角度固定測量時，輸入推算的慣性半徑，并對角度依存測量進行相應(yīng)的補正，便可提高分子量的測量精度。

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