AOI 檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)在國內(nèi)處于剛起步階段，目前市場(chǎng)上只有20%-30%的SMT 生產(chǎn)線裝配了AOI 檢測(cè)設(shè)備，而國際領(lǐng)i先電子制造企業(yè)的SMT 生產(chǎn)線基本都配置了AOI 檢測(cè)設(shè)備。即便目前配備了AOI 檢測(cè)設(shè)備的電子制造企業(yè)絕大多數(shù)也只在爐后配備一臺(tái)進(jìn)行全檢，而按照國際經(jīng)驗(yàn)，Omron VT-X750，每條生產(chǎn)線至少要配置三臺(tái)AOI 檢測(cè)設(shè)備放置在生產(chǎn)線不同測(cè)試工位。因此隨著行業(yè)的發(fā)展及AOI 檢測(cè)設(shè)備自身具備的優(yōu)勢(shì)，未來AOI 檢測(cè)設(shè)備的裝備率會(huì)越來越高。

通過減小ICT/AXI多余的測(cè)試覆蓋面可大大減小ICT的接點(diǎn)數(shù)量。這種簡化的ICT測(cè)試只需原來測(cè)試接點(diǎn)數(shù)的30%就可以保持高測(cè)試覆蓋范圍，而減少ICT測(cè)試接點(diǎn)數(shù)可縮短ICT測(cè)試時(shí)間、加快ICT編程并降低ICT夾具和編程費(fèi)用。在過去的兩三年里，采用組合測(cè)試技術(shù)，特別是AXI/ICT組合測(cè)試復(fù)雜線路板的情況出現(xiàn)了驚人的增長，而且增長速度還在加快，因?yàn)橛懈嗟纳a(chǎn)廠家意識(shí)到了這項(xiàng)技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)并將其投入使用。

一直以來，AOI設(shè)備在圖像提取后數(shù)字處理過程中通常用到的軟件分析技術(shù)有:模板比較、邊緣檢查、灰度模型、特征提取、固態(tài)建模、矢量分析、圖形配對(duì)和傅里葉氏分析等；主要硬件有：攝像機(jī)、絲桿或傳送帶、伺服馬達(dá)或步進(jìn)馬達(dá)和彩色光源或黑白光源。工作原理為攝像機(jī)獲得一塊板的照明圖像并數(shù)字化，然后通過軟件與已經(jīng)定義為“好”的圖像進(jìn)行分析、比較而實(shí)現(xiàn)其檢測(cè)功能的。然而每種軟件和處理方法都存在著其本身的優(yōu)勢(shì)和缺陷，因此在實(shí)際應(yīng)用中都不夠理想和完i美。其中圖像比對(duì)(統(tǒng)計(jì)建模)和矢量分析在目前流行的AOI光學(xué)檢測(cè)儀中用的比較普遍.那么有朋友會(huì)問哪一種技術(shù)的aoi設(shè)備會(huì)好一些呢?這就需要我們搞清楚這兩種技術(shù)在圖像數(shù)字化過程中所產(chǎn)生的結(jié)果是怎樣的.認(rèn)識(shí)他們的特色和差異，有助于創(chuàng)建、輸入、輸出編輯和應(yīng)用數(shù)字圖像。

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