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材質(zhì)必須均勻。你的待測元素不均勻的話,多的地方和少的地方差別會較大。因?yàn)閄RF光譜儀入射光線一般較窄,直徑1-5微米,也就是說照射到樣品的區(qū)域會很小,所以不均勻樣品檢測會不準(zhǔn)確,當(dāng)然主要也是看不均勻程度。
你的交錯(cuò)規(guī)律排列指的什么?如果是一層高分子,一層無機(jī)物,在一層高分子一層無機(jī)物,并且每層的厚度一定(比如層高分子都是10微米厚)。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的,但是用X熒光光譜儀測量還是有問題,因?yàn)閄熒光透過不同物質(zhì)有厚(某元素的X熒光透射不出來的厚度,原因是自吸收)的問題。
5 當(dāng)拆分對象難以進(jìn)一步拆分且重量≤10mg 時(shí),不必拆分,作為非均質(zhì)檢測單元,直接提交檢測。
6 當(dāng)拆分對象難以進(jìn)一步拆分且體積≤1.2mm3時(shí),不必拆分,可以整體制樣(如:0805類貼片類元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分)作為非均質(zhì)檢測單元,直接提交檢測。
7 表面處理層應(yīng)盡量與本體分離(如涂層);對于確實(shí)無法分離的(如鍍層),可對表面處理層進(jìn)行初篩(如使用 X 射線熒光光譜儀(XRF)等手段),CS995型紅外碳硫分析儀,篩選合格則不拆分;篩選不合格,可使用非機(jī)械方法分離(如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化溶液
學(xué)溶解提取)。
8 在滿足檢測結(jié)果有效性的前提下,對于經(jīng)拆分后樣品無法滿足檢測需求量時(shí),可采取
適類,一同制樣,直接提交檢測
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