膜厚儀EDX8000B可分析的常見(jiàn)鍍層材料

可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如Cr/Fe， Ni/Fe，XRF鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)， Ag/Cu，Zn/Fe等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn， Ni/Cu/Fe等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe， 同時(shí)分析鎳磷含量和鍍層厚度

英飛思XRF鍍層測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過(guò)將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

>硅漂移探測(cè)器 (SDD) 作為檢測(cè)系統(tǒng)

高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

>高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng)

的點(diǎn)位測(cè)量功能有助于提高測(cè)量精度。

>全系列標(biāo)配薄膜FP無(wú)標(biāo)樣分析法軟件，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進(jìn)行日常測(cè)量。

XRF金屬鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)

>測(cè)試快速，無(wú)需樣品制備

>可通過(guò)內(nèi)置高清CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測(cè)量，鹽城XRF鍍層測(cè)厚儀，避免直接接觸，污染或破壞被測(cè)物

>備有多種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品

>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U鈾

>SDD檢測(cè)器，XRF鍍層測(cè)厚儀價(jià)格，具有高計(jì)數(shù)范圍和出色的能量分辨率

>可切換準(zhǔn)直器和濾光片

XRF金屬鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用場(chǎng)景

>EDX8000B鍍層測(cè)厚儀可以用于PCB鍍層厚度測(cè)量，PCB鍍層分析，金屬電鍍鍍層分析；

>測(cè)量的對(duì)象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)生成膜等

>可測(cè)量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度

英飛思科學(xué)儀器公司-鹽城XRF鍍層測(cè)厚儀由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司實(shí)力不俗，信譽(yù)可靠，在江蘇 蘇州 的分析儀器等行業(yè)積累了大批忠誠(chéng)的客戶。英飛思科學(xué)帶著精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念和您攜手步入輝煌，共創(chuàng)美好未來(lái)！