膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀

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>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，鍍層測厚儀膜厚儀怎么用，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，鍍層測厚儀膜厚儀好不好，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。⒏在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，洛陽鍍層測厚儀膜厚儀，Ltd.

公司logo和英文縮寫為ESI。

英飛思ESI坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。

XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。

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