因此，控管熔煉過程中的含量比例相當(dāng)重要，利用桌上型XRF光譜儀EDX9000A靈敏度高、檢測(cè)下限低、再現(xiàn)性佳的特性，可以有效應(yīng)用于鋅合金的管控。

新型EDX9000A合金分析光譜儀代表了能量色散X射線熒光技術(shù)上的巨大突破。它帶來主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性進(jìn)展。激發(fā)和檢測(cè)方面的新發(fā)展實(shí)現(xiàn)了杰出的靈敏度和檢測(cè)極限——大幅提高性和準(zhǔn)確度。

其顯著優(yōu)勢(shì)主要有

?更快---全程無(wú)損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果（可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果）

?更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增應(yīng)，并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾，把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

?更穩(wěn)---使用新的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性，該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS）。

蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司EDX9000A結(jié)合了新的樣品激發(fā)和信號(hào)檢測(cè)技術(shù)，使得它的分析性能可以與實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準(zhǔn)直器，高功率X射線管，以及美國(guó)Amptek的SDD硅漂移檢測(cè)器，EDX9000A實(shí)現(xiàn)了優(yōu)化的硬件組合。選擇金屬合金分析儀時(shí)，EDX-9000A真空型合金分析儀哪里有，客戶通常會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試準(zhǔn)確性，分析速度和設(shè)備耐用性，而EDX9000A是對(duì)上述三點(diǎn)指標(biāo)的體現(xiàn)。



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