膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀

Simply The Best

>微光斑X 射線聚焦光學器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，膜厚儀EDX8000T Plus，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢

>微光斑X 射線聚焦光學器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。

測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。蘇州英飛思科學儀器有限公司



膜厚儀EDX8000T Plus-英飛思科學由蘇州英飛思科學儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學儀器有限公司是一家從事“光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀”的公司。自成立以來，我們堅持以“誠信為本，穩(wěn)健經營”的方針，勇于參與市場的良性競爭，使“英飛思”品牌擁有良好口碑。我們堅持“服務至上，用戶至上”的原則，使英飛思科學在分析儀器中贏得了客戶的信任，樹立了良好的企業(yè)形象。 特別說明：本信息的圖片和資料僅供參考，歡迎聯(lián)系我們索取準確的資料，謝謝！