膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀

Simply The Best

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司

英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，XRF鍍層測厚儀，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。

營口XRF鍍層測厚儀-蘇州英飛思科學(xué)由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。“光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀”選擇蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司，公司位于：蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室，多年來，英飛思科學(xué)堅持為客戶提供好的服務(wù)，聯(lián)系人：張經(jīng)理。歡迎廣大新老客戶來電，來函，親臨指導(dǎo)，洽談業(yè)務(wù)。英飛思科學(xué)期待成為您的長期合作伙伴！