電連接器的檢驗(yàn)技術(shù)知識(shí)

檢驗(yàn)人員必須掌握的電刺破連接器及其組件的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)、材料和制造工藝的基本知識(shí)，目的是使其了解電連接器及其組件是如何設(shè)計(jì)制造出來(lái)的，因?yàn)椴涣私饣窘Y(jié)構(gòu)原理、材料的選用和有關(guān)的制造工藝，也就無(wú)法理解和分析許多缺陷和故障產(chǎn)生的根源。

第二：檢驗(yàn)人員必須掌握的有關(guān)電刺破連接器及其組件質(zhì)量一致性檢驗(yàn)和驗(yàn)收。電學(xué)性能和力學(xué)性檢驗(yàn)，失效分析和可靠性分析實(shí)驗(yàn)等基本知識(shí)。作為一名合格稱(chēng)職的檢驗(yàn)人員，應(yīng)不斷學(xué)習(xí)進(jìn)取和拓寬自己的知識(shí)面，特別是要與時(shí)俱進(jìn)，迅速引進(jìn)消化吸收一些新的檢驗(yàn)方法和分析技術(shù)。

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視頻作者：東莞市捷友連接器有限公司

淺談刺破連接器

市場(chǎng)對(duì)于刺破連接器集中和小型化趨勢(shì)的需要，促使接線端子技術(shù)。半導(dǎo)體芯片技術(shù)正成為各級(jí)互連中連接器發(fā)展的技術(shù)驅(qū)動(dòng)力，例如，伴隨0.5mm間距芯片封裝迅速向0.25mm間距發(fā)展，使I級(jí)互連(IC器件內(nèi)部)和Ⅱ級(jí)互連(器件與板的互聯(lián))的器件引腳數(shù)由數(shù)百線達(dá)數(shù)千線。在圓筒形開(kāi)槽插孔、彈性線插針以及雙曲面線簧插孔連接器中普遍采用壓配合接觸件技術(shù)，大大提高了刺破連接器的可靠性，保證了信號(hào)傳遞的高保真性。

刺破連接器的高溫效應(yīng)和熱效應(yīng)

熱效應(yīng)：

由于優(yōu)良的電刺破連接器總接觸電阻較?。ㄎW）,且都是 通過(guò)沿著許多較高電阻點(diǎn)的導(dǎo)電通路的界面進(jìn)行并關(guān)聯(lián)來(lái)達(dá)到的。因此通電會(huì)出現(xiàn)一系列局部熱點(diǎn)。當(dāng)大電流通過(guò)多個(gè)陰陽(yáng)接觸件對(duì)時(shí)，電連接器會(huì)出現(xiàn)明顯的累計(jì)溫升。

高溫效應(yīng):

過(guò)高溫度會(huì)導(dǎo)致絕緣擊穿或破壞導(dǎo)線的導(dǎo)電性而使電刺破連接器局部或整體失效。隨溫度升高，絕緣趨向于越來(lái)越導(dǎo)電。與此同時(shí)，導(dǎo)線電阻隨之增加，電阻越高，導(dǎo)線和絕緣層的溫升也越高，過(guò)高溫度會(huì)引起絕緣擊穿往往是逐漸發(fā)生。這種逐步升級(jí)的效應(yīng)會(huì)使導(dǎo)線和連接器的接觸件超出額定工作溫度使接觸件和導(dǎo)線鍍層遭到破壞。若工作溫度達(dá)到使導(dǎo)線融化，從而導(dǎo)致電性破壞或者絕緣失效而引起的短路，會(huì)使連接器完全失效。