三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x：測(cè)量?jī)x的帝王

      從二次元影像測(cè)量?jī)x誕生的那一刻開(kāi)始，迎來(lái)了測(cè)量?jī)x的發(fā)展時(shí)代， CNC二次元到手動(dòng)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，再到CNC三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，都是在二次元影像測(cè)量?jī)x的基礎(chǔ)上一步一步發(fā)展起來(lái)的。而在測(cè)量?jī)x從二次元到三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的發(fā)展歷程中，三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x從中獲得了什么，同時(shí)有付出了什么呢　

   我們知道，精密測(cè)量?jī)x器在沒(méi)有進(jìn)入測(cè)量?jī)x之前，我們所使用的檢測(cè)儀器只是原始的投影機(jī)而已，這種機(jī)器無(wú)論是測(cè)量功能，還是測(cè)量精度都有著很大的缺憾。于是，為了適應(yīng)市場(chǎng)的發(fā)展需求，二次元影像儀出現(xiàn)在市場(chǎng)與客戶的視野中，精密測(cè)量?jī)x器也迎來(lái)了測(cè)量?jī)x的高速發(fā)展時(shí)代。

在測(cè)量?jī)x中，二次元影像測(cè)量?jī)x和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是兩個(gè)主要的檢測(cè)儀器，其中，二次元在測(cè)量?jī)x的發(fā)展中，奠定了發(fā)展的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)，同時(shí)促進(jìn)了測(cè)量?jī)x的發(fā)展，那么三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x又在其中充當(dāng)了怎樣的角色呢？

　　在三次元測(cè)量?jī)x出現(xiàn)之前，相信很多人都不會(huì)相信會(huì)有這種機(jī)器的出現(xiàn)，可是事實(shí)證明三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的出現(xiàn)完全社會(huì)與市場(chǎng)發(fā)展的必然產(chǎn)物。當(dāng)然，在測(cè)量?jī)x以后的發(fā)展歷程中，為了更好的實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的目標(biāo)，可能會(huì)出現(xiàn)更的檢測(cè)儀器。但是在它出現(xiàn)之前，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)將會(huì)仍然是測(cè)量?jī)x中為的檢測(cè)儀器。

   隨著測(cè)量?jī)x的發(fā)展，三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x也許不可避免成為行業(yè)發(fā)展的過(guò)渡性產(chǎn)物，但絲毫不影響它在過(guò)渡過(guò)程中，在精密測(cè)量?jī)x器行業(yè)中享受帝王般的待遇！

三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x側(cè)頭使用常識(shí)

   測(cè)頭是三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x重要的組成部分，在三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的應(yīng)用中發(fā)揮著巨大的作用。測(cè)頭可以分為兩種，分別是：掃描測(cè)頭和觸發(fā)測(cè)頭，目前的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x使用的是觸發(fā)測(cè)頭。下面，便攜式三坐標(biāo)檢測(cè)廠家，我們就對(duì)觸發(fā)測(cè)頭的使用進(jìn)行介紹。

觸發(fā)式測(cè)頭使用：

   一、. 觸發(fā)式測(cè)頭比掃描測(cè)頭快，觸發(fā)測(cè)頭體積較小當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件；

   二、零件所被關(guān)注的是尺寸(如小的螺紋底孔)、間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差(如定位銷孔)；

   三、 或你確信你所用的加工設(shè)備有能加工出形狀足夠好的零件，而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是合適的，特別是由于對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量；

   四. 一般來(lái)講觸發(fā)式測(cè)頭使用及維修成本較低；

   由于目前的機(jī)械工業(yè)需要測(cè)量大量的幾何量，所關(guān)注的僅是工件的尺寸及位置，所以目前市場(chǎng)上的大部分三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，仍然使用接觸式觸發(fā)測(cè)頭，特別是中等精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

   對(duì)于三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)操作人員來(lái)說(shuō)，測(cè)頭知識(shí)是必須要了解的。因?yàn)檫@是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)基本的使用常識(shí)，只有了解并掌握了才有可能完成測(cè)量任務(wù)。

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)從接觸式到非接觸式的發(fā)展歷程

   三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x有接觸式和非接觸式兩種類型，非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是在接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)，現(xiàn)在我們來(lái)了解下他們的發(fā)展歷程。

   接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，它是通過(guò)探針碰觸產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量，它的優(yōu)勢(shì)是可以自動(dòng)測(cè)量，減少人為誤差，便攜式三坐標(biāo)檢測(cè)精度，對(duì)于大尺寸的產(chǎn)品編程序并實(shí)現(xiàn)批量測(cè)量。但是問(wèn)題是接觸式測(cè)量只能對(duì)面及柱、錐、球等幾何實(shí)體進(jìn)行測(cè)量，而且探針在使用之前必須根據(jù)零件被測(cè)的特征大小進(jìn)行選擇，校準(zhǔn)后才能使用。

   在接觸式三坐標(biāo)的測(cè)量程序自動(dòng)運(yùn)行中，必須一點(diǎn)一點(diǎn)地碰觸，經(jīng)歷趨近，碰點(diǎn)，回彈的過(guò)程，不僅耗時(shí)，而且必須具備安全空間才可以使用。探針的針徑1小直徑在0.3mm以內(nèi)，便攜式三坐標(biāo)檢測(cè)，在編程時(shí)就已經(jīng)很困難了，而且探針容易發(fā)生碰撞的事故。那么薄壁、易變形的產(chǎn)品就更加不能碰觸了。

   隨著精密和維細(xì)制造的數(shù)字化水平的發(fā)展，產(chǎn)品集成化大勢(shì)所趨，微小產(chǎn)品的快速測(cè)量成為業(yè)界日益緊迫的任務(wù)。接觸式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)測(cè)量已經(jīng)無(wú)法完全滿足要求。

   隨著光學(xué)、機(jī)械、電子等技術(shù)的發(fā)展和高度融合，三維光學(xué)測(cè)量?jī)x器和多元傳感的三維光學(xué)測(cè)量?jī)x器應(yīng)運(yùn)而生了。

   三維光學(xué)測(cè)量?jī)x器優(yōu)異的影像識(shí)別能力使得全自動(dòng)測(cè)量成為可能。批量的產(chǎn)品數(shù)百數(shù)據(jù)可以通過(guò)按一個(gè)按鈕實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量和自動(dòng)輸出結(jié)果，便攜式三坐標(biāo)檢測(cè)廠，改變傳統(tǒng)的依靠經(jīng)驗(yàn)的手動(dòng)測(cè)量方式，使自動(dòng)測(cè)量的重復(fù)性控制在微米級(jí)，極大程度地提高檢測(cè)水平，促進(jìn)制造品質(zhì)的提高。

   從三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的發(fā)展歷程得出這樣的結(jié)論，隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展，在不久的將來(lái)，必然會(huì)出現(xiàn)比非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)機(jī)更加的儀器。但絲毫不影響，非接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在目前階段精密測(cè)量?jī)x器行業(yè)中的地位。

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