江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠  一六儀器一liu品質(zhì)  可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,歡迎來電咨詢!

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

  zui da功率 ：330W

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

常見幾種測(cè)厚儀的工作原理是什么？測(cè)厚儀，英文名稱為thickness gauge ，是一類用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度。那么我們常見的幾種測(cè)厚儀的工作原理是什么？下面就來了解下：

      1、測(cè)厚儀原理--激光測(cè)厚儀

      激光測(cè)厚儀：此類測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。

江蘇一六儀器有限公司   專業(yè)解決各種大小異形、多層多元素、重復(fù)鍍層、輕元素、有機(jī)物及微小樣品檢測(cè)

什么是涂層測(cè)厚儀

   什么是涂層測(cè)厚儀？不同類型的測(cè)厚儀，對(duì)應(yīng)不一樣的行業(yè)，適用范圍也有所不同，那么我們?cè)谶x購(gòu)測(cè)厚儀時(shí)，就需要對(duì)特定的測(cè)厚儀有所了解，那么這次就先來了解下涂層測(cè)厚儀的概念。

涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

江蘇一六儀器有限公司是一家光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的企業(yè)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。3)C型架落入導(dǎo)軌后，就進(jìn)行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。歡迎咨詢聯(lián)系！

如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)

    如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)位置？我們想要使用測(cè)厚儀測(cè)量物品厚度，前提是有測(cè)點(diǎn)位置，相當(dāng)于我們的需要選擇一個(gè)固定點(diǎn)為零值一樣，如此才能夠測(cè)量出具體厚度。

 1、鋼結(jié)構(gòu)柱、梁,在構(gòu)件長(zhǎng)度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測(cè)試構(gòu)件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂刷厚度.

   2、桁架結(jié)構(gòu)、梁,在上、下弦和腹桿的長(zhǎng)度方向內(nèi)每隔1m取一個(gè)截面,測(cè)定桿件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂層厚度.頂板和鋼樓梯,在每平方范圍內(nèi)選取5個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)定,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該構(gòu)件的涂層厚度.

X射線熒光分析儀的應(yīng)用

一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動(dòng)的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對(duì)其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測(cè)，對(duì)產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無損檢測(cè)，對(duì)人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。我們想要使用測(cè)厚儀測(cè)量物品厚度，前提是有測(cè)點(diǎn)位置，相當(dāng)于我們的需要選擇一個(gè)固定點(diǎn)為零值一樣，如此才能夠測(cè)量出具體厚度。同時(shí)，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。