測試參數： ICES 集電極-發(fā)射極漏電流 IGESF 正向柵極漏電流 IGESR 反向柵極漏電流 BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓 VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓 VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓 ICON 通態(tài)電極電流 VGEON 通態(tài)柵極電壓 VF 二極管正向導通壓降 整個測試過程自動完成，電腦軟件攜帶數據庫管理查詢功能，可生成測試曲線，方便操作使用。電流 通過選擇不同檔位電感，滿足0~200A電流輸出需求（10ms）。

9、系統(tǒng)保護功能

9.1 有完備的安全控制單元，動態(tài)測試設備有傳感器來保證操作者安全，設備任何門被打開均能快速切斷高壓電源。

9.2 有急停按鈕，當急停按鈕被按下時，迅速切斷所有高壓電源。

9.3 系統(tǒng)帶有短路保護功能，在過載時迅速斷開高壓高電流。

9.4 操作系統(tǒng)帶有多級權限。

9.5 系統(tǒng)應配有內置ups，保證計算機系統(tǒng)在電網短時間掉電情況下，為系統(tǒng)供電0.5小時以上，確保系統(tǒng)及數據安全。

10、樣品夾具

10.1 有通用測試夾具。

10.2 帶有62mm封裝測試夾具

10.3 帶有EconoPACK3封裝測試夾具

10.4 帶有34mm封裝測試夾具

開通特性測試采用雙脈沖測試法。由計算機設定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值（一般為被測器件額定電壓的1/2），設定±VGG到測試要求值，計算機控制接通開關S1,并控制輸出被測雙脈沖觸發(fā)信號，開通和關斷被測器件兩次，被測器件次開通后，集電極電流IC上升，直至被測器件飽和導通且IC達到測試規(guī)定值時，關斷被測器件(設為t1時刻)，之后電感L經二極管（Q1內部二極管）續(xù)流，IC迅速減小，直至IC降為零時，第二次開通被測器件(設為t2時刻)，此后電感L中的電流向IC轉移，IC迅速上升(若L足夠大，t1～t2間隔足夠短，L中的電流可視為恒流），直至被測器件再次達到飽和導通時(設為t3時刻)，關斷被測器件。電子電力產品生產、檢修廠——應用本公司測試系統(tǒng)可對所應用到的半導體元器件，尤其對現代新型IGBT大功率器件的全參數進行智能化測試、篩選、分析，以確保出廠產品的穩(wěn)定性、可靠性。記錄下被測器件IC、VCE以及VGE在t2～t3之間的導通波形，其中，VCE采樣到示波器的CH1通道，IC取樣到示波器的CH2通道，VGE采樣到示波器的CH3通道，示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計算機，由計算機對測試波形進行分析與計算，后顯示測試結果。