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選擇同一金屬樣品對(duì)安檢門(mén)進(jìn)行探測(cè),漏報(bào)越小越好。
常規(guī)安檢門(mén)應(yīng)能對(duì)所有的金屬進(jìn)行探測(cè)(特種設(shè)計(jì)的探測(cè)器除外),都能通過(guò)《GB15210-2003》國(guó)標(biāo)中關(guān)于“靈敏度”標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)格檢驗(yàn)。我們選擇探測(cè)的金屬樣品包含在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。
金屬信號(hào)檢測(cè)能力是表現(xiàn)一個(gè)金屬探測(cè)器生產(chǎn)廠家技術(shù)力量的標(biāo)志,技術(shù)好的廠家對(duì)有色金屬和黑色金屬都能進(jìn)行同樣的探測(cè),并且在穩(wěn)定性好的條件下能對(duì)更小的金屬進(jìn)行探測(cè),靈敏度控制很清楚。而品質(zhì)差的安檢門(mén)如果把靈敏度稍調(diào)高時(shí),沒(méi)帶什么東西通過(guò)都亂報(bào)警,靈敏度稍調(diào)低一點(diǎn),就要很大金屬物通過(guò)才能報(bào)警。這類安檢門(mén)是由于內(nèi)部電路設(shè)計(jì)性能低劣,控制不線性的原因引起,不能采用。
另外由于電磁波存在方向性,因此對(duì)金屬物探測(cè)也存在方向性,對(duì)切割電磁波的面產(chǎn)生信號(hào)相應(yīng)就強(qiáng),對(duì)切割電磁波少的面產(chǎn)生信號(hào)相應(yīng)就弱。技術(shù)的生產(chǎn)企業(yè)能對(duì)磁場(chǎng)的方向性作均化處理,因此在安檢門(mén)同一探測(cè)區(qū)內(nèi)探測(cè)金屬物各個(gè)方向效果差異不大;如果差異較大,則漏報(bào)越大,故用戶應(yīng)選擇方向性探測(cè)均化效果好的產(chǎn)品。
選用同一種金屬物由測(cè)試人攜帶從安檢門(mén)的各個(gè)區(qū)位通過(guò),并且在各個(gè)區(qū)位把金屬物以不同的方向通過(guò),選擇漏報(bào)少的產(chǎn)品。對(duì)于要排除小的金屬,需要探測(cè)較大的金屬時(shí)把靈敏度調(diào)節(jié)至合適位置即可,試驗(yàn)方法同上。
金屬探測(cè)安檢門(mén)的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案
1、能探測(cè)物體:
一般易導(dǎo)磁金屬,即易被磁鐵吸附物體,如硅鋼、鐵、銅、合金等物體。但如物體分散,如粉狀金屬、線狀金屬等不易探測(cè)。
金屬能探測(cè)到以為標(biāo)準(zhǔn),如客戶材料特殊,可要求提供樣品進(jìn)行測(cè)試。
2、常見(jiàn)問(wèn)題:
A:安裝,分清左右門(mén)板,左邊(4P插頭),右邊(3P插頭),插接牢固,不能反裝。
B:不報(bào)警時(shí)檢查強(qiáng)弱是否常亮,紅外計(jì)數(shù)是否正常。
具體問(wèn)題:
(1)不能開(kāi)機(jī):
a、電源指示燈亮,檢驗(yàn)箱內(nèi)電源是否插牢,如無(wú)問(wèn)題,檢驗(yàn)保險(xiǎn)管及電源部分線路是否正常連接。
b、電源指示不亮,檢驗(yàn)入線航插是否插接牢固,電源線是否良好。
(2)紅外不計(jì)數(shù):檢驗(yàn)紅外線是否插接牢固,紅外頭是否被遮檔。
(3)不報(bào)警:
a、強(qiáng)弱常亮,檢驗(yàn)周圍是否有干擾源,試著轉(zhuǎn)換晶振改變頻率。
b、檢驗(yàn)紅外是否正常。
(4)報(bào)警時(shí)間長(zhǎng):檢驗(yàn)報(bào)警時(shí)長(zhǎng)設(shè)置及紅外計(jì)數(shù)是否正常。
(5)串極:檢驗(yàn)是否有干擾。
(6)液晶門(mén)流水現(xiàn)象:檢驗(yàn)液晶板是否被擠壓,松掉液晶板后螺絲。