能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

江蘇一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。

它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時(shí)冷卻。色散單元的作用是分出想要波長(zhǎng)的X射線。它由樣品室、狹縫、測(cè)角儀、分析晶體等部分組成。

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質(zhì)的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。

能量色散X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的構(gòu)成元素發(fā)生的特征輻射，經(jīng)過(guò)側(cè)里和剖析樣品發(fā)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家構(gòu)成，獲得物質(zhì)成分的定性和定量信息。

X射線熒光光譜法原理研究

一六儀器  光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家  一六儀器一liu品質(zhì),可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來(lái)電咨詢!

X射線

   德國(guó)物理學(xué)家倫琴在研究稀薄氣體放電實(shí)驗(yàn)時(shí)，采用了一種特殊裝置，此裝置發(fā)射電子，在陰極相對(duì)的位置裝置金屬陽(yáng)極，在陰陽(yáng)兩極之間加以高電壓，當(dāng)容器充有稀薄氣體時(shí)，氣體中可觀察到放電現(xiàn)象，試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)的這種未知射線，倫琴命名為X射線。對(duì)X射線定義為：電子在原子核附近加速或核外內(nèi)層電子能級(jí)間發(fā)生躍遷時(shí)所發(fā)射的電磁輻射。將測(cè)頭垂直接觸工件的測(cè)量面，并輕壓測(cè)頭的加載套，當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)工件表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標(biāo)識(shí)和測(cè)量值。

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

    我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以，那么X射線測(cè)厚儀測(cè)量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了，如果X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度發(fā)生了偏差，那么生產(chǎn)出來(lái)的產(chǎn)品就不會(huì)！生產(chǎn)產(chǎn)品過(guò)程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中最為常見，也是最需要注意的一個(gè)點(diǎn)。由此可知測(cè)厚儀的測(cè)量精度有多么重要，因此，這次在這與大家分享下X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些:

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響；

第二,在X射線測(cè)厚儀通過(guò)施加高壓釋放出X射線時(shí),X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會(huì)影響X射線對(duì)被測(cè)物體的測(cè)量；

第三,在測(cè)量過(guò)程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度；

第四,在生產(chǎn)過(guò)程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。

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江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來(lái)電咨詢！

不同種類的測(cè)厚儀的應(yīng)用

1、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，一六儀器從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。

應(yīng)用領(lǐng)域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)

3、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.