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一六儀器 光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠 一六儀器一liu品質(zhì) 可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來(lái)電咨詢!
激光測(cè)厚儀型號(hào)選擇方法:
1、用戶需要告訴激光測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家測(cè)量什么產(chǎn)品的厚度及其抖動(dòng)、運(yùn)動(dòng)速度等。鋼棒、木板、熱軋、冷軋、抖動(dòng)效果、運(yùn)動(dòng)速度等多種信息。從而判斷需要使用什么測(cè)厚儀。
2、被測(cè)產(chǎn)品的厚度范圍,較大和較小的厚度分別是多少?我們會(huì)根據(jù)這兩個(gè)外徑數(shù)值來(lái)推薦一款量程合適的。
3、被測(cè)物厚度要求的精度是多少?激光測(cè)厚儀的測(cè)量精度一般都可優(yōu)于0.01mm,較可以達(dá)到0.004mm,可根據(jù)測(cè)量范圍和精度來(lái)選擇一款合適的。
4、客服推薦適合的測(cè)厚儀,如果有可能,盡量直接來(lái)廠家進(jìn)行了解下。
一六儀器 國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀
一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專(zhuān)利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例
涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些
我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí),如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程,那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題,甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅,那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些,下面就來(lái)了解下先:
二、 操作流程圖
開(kāi)啟儀器 —— 校準(zhǔn)儀器 —— 進(jìn)行測(cè)量 —— 關(guān)閉儀器
三、操作步驟
基本測(cè)量步驟
1. 準(zhǔn)備好待測(cè)工件;
2. 將測(cè)頭插頭插入主機(jī)的測(cè)頭插座中;
3. 儀器開(kāi)機(jī);
一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)
樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
da功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎
測(cè)厚儀和膜厚儀是不一樣的,膜厚儀屬于測(cè)厚儀的分類(lèi),也就是說(shuō)測(cè)厚儀是膜厚儀的上司一樣,對(duì)此我們也可以來(lái)了解下測(cè)厚儀跟膜厚儀的一些概念:
測(cè)厚儀按原理分類(lèi):激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、壓力測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀。
測(cè)厚儀的原理:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量,當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
性能優(yōu)勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。
率的jie shou qi :即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
測(cè)厚儀的原理:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量,當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
膜厚儀:屬于測(cè)厚儀的一種,膜厚儀測(cè)量覆膜薄膜的厚度,手持式的有涂層測(cè)厚儀,為磁阻法和電渦流原理,臺(tái)式的不同原理也有好多種,電感原理等。