優(yōu)勢(shì)大部分電子產(chǎn)品的發(fā)展方向都在向著小型化前進(jìn)，電路板也越來(lái)越來(lái)精密化，單靠人工目檢SMT包工包料的板子難度越來(lái)越來(lái)大，長(zhǎng)時(shí)間檢查還容易產(chǎn)生用眼疲勞，產(chǎn)生漏檢。AOI系統(tǒng)中的另一個(gè)重要環(huán)節(jié)是圖像處理/分析軟件，軟件需要支持高速實(shí)時(shí)圖像處理（與圖像采集速度一致）功能，并且可以與存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)圖像做比對(duì)。如果比較結(jié)果小于標(biāo)準(zhǔn)閥值，則該圖像通過(guò)檢測(cè)；否則系統(tǒng)會(huì)判定該圖像為不合格，并將此部件轉(zhuǎn)移到其他區(qū)域，供后續(xù)維修或再檢測(cè)。

AOI檢測(cè)行業(yè)中游按照檢測(cè)方式可以分為在線(xiàn)AOI檢測(cè)設(shè)備和離線(xiàn)AOI檢測(cè)設(shè)備;下游按照應(yīng)用領(lǐng)域的不同可以分為PCB電路板行業(yè)、FPD平板顯示器行業(yè)以及半導(dǎo)體行業(yè)。自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)（AOI）是基于光學(xué)原理，綜合采用被檢測(cè)產(chǎn)品的圖像采集分析、計(jì)算機(jī)軟件和自動(dòng)控制等多種技術(shù)相結(jié)合，對(duì)生產(chǎn)中遇到的缺陷進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)和處理，是目前比較先進(jìn)的產(chǎn)品缺陷檢測(cè)方式。伴隨著產(chǎn)品組件的微型化，為了提高產(chǎn)品檢測(cè)速度，更高精度相機(jī)的使用成了AOI系統(tǒng)的關(guān)鍵所在。

AOI系統(tǒng)中的另一個(gè)重要環(huán)節(jié)是圖像處理/分析軟件，軟件需要支持高速實(shí)時(shí)圖像處理（與圖像采集速度一致）功能，并且可以與存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)圖像做比對(duì)。隨著電子產(chǎn)品的小型化以及低能耗化，其產(chǎn)品元器件趨于微型化，組件在裝配過(guò)程中越來(lái)越不可能采用人工檢視的方式，必須采用自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備。機(jī)器學(xué)習(xí)可以不斷訓(xùn)練AOI系統(tǒng)，并使AOI系統(tǒng)具備一定的智能化——AOI系統(tǒng)可以決定以前未知的產(chǎn)品缺陷是否為關(guān)鍵缺陷，并通知給現(xiàn)場(chǎng)工程師。