大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

厚度測量儀器的類型設備還比較多，不同類型的設備適合不同的產(chǎn)品，所以，我們要注意設備的使用，千萬不要遵循使用的方便性，很多人會說，不是所有的測試。設備的厚度，無論什么。材料可以使用！事實上，這是完全錯誤的，例如，厚度測量儀有激光和X光，這兩種適用的產(chǎn)品也是不同的。我們建議您可以看一下產(chǎn)品設備的說明書，看看這個設備的合適產(chǎn)品是什么，我們可以充分發(fā)揮設備的效率。

膜厚測量儀校準方式

儀器較零

1.測量鐵基上的探針壓力（或沒有涂層測量體）。滄州歐洲頻譜，并按下零鍵零到零。壓零鍵時，不要將測量探頭搖晃在鐵基上。同時，我們必須注意，只有在按下零鍵之后才能拾起探頭，否則，校準誤差是不正確的。

2.取測量探頭（或不加測量體上的涂層），觀察鐵基體上的測量值，如果測量值接近0，則顯示零校正成功，否則將獲得新零。

儀器校滿度

1.根據(jù)待測涂層的厚度，選擇合適的標準膜片進行全刻度標定。

2.首先，將標準膜片放置在鐵基體上（或者沒有涂層測量體）。

3.然后按測量探頭在標準的隔膜，與測量值顯示。如果測量值不同于標準膜片，則可以通過添加1或負1個鍵來校正測量值。當進行校正時，必須抬起探頭。否則，按1鍵或減少1鍵。

4.為了保證校準的精度，可以通過重復測量同一標準膜片來驗證。