等離子發(fā)生器光源：一代等離子發(fā)生器是至今堅(jiān)固的激發(fā)光源。超穩(wěn)定的能量釋放在氣環(huán)境中激發(fā)樣品。凹面光柵的問(wèn)世不僅簡(jiǎn)化了光譜儀器的結(jié)構(gòu)，而且還提高了它的性能。全數(shù)字信號(hào)發(fā)生配合全數(shù)字能量輸出，確保激發(fā)區(qū)等離子體能量超高分辨率和高保真輸出。 在標(biāo)準(zhǔn)分析應(yīng)用中18秒內(nèi)可以獲得分析數(shù)據(jù)，提高了樣品輸出量和過(guò)程控制效率。

基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

直讀光譜儀器的誤差來(lái)源有哪些？1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；3、測(cè)控系統(tǒng)：測(cè)量代表各元素的特征譜線強(qiáng)度，通過(guò)各種手段，將譜線的光強(qiáng)信號(hào)轉(zhuǎn)化為電腦能夠識(shí)別的數(shù)字電信號(hào)，控制整個(gè)儀器正常運(yùn)作。樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致，這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過(guò)程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。2)偶然誤差是一種無(wú)規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測(cè)時(shí)周?chē)臏貪穸?、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等?)過(guò)失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

1882年，羅蘭發(fā)明了凹面光柵，即是把劃痕直接刻在凹球面上。凹面光柵實(shí)際上是光學(xué)儀器成象系統(tǒng)元件的合為一體的高元件，它解決了當(dāng)時(shí)棱鏡光譜儀所遇到的不可克服的困難。凹面光柵的問(wèn)世不僅簡(jiǎn)化了光譜儀器的結(jié)構(gòu)，而且還提高了它的性能。

國(guó)產(chǎn)直讀光譜分析儀器波耳的理論在光譜分析中起了作用，其對(duì)光譜的激發(fā)過(guò)程、光譜線強(qiáng)度等提出比較滿意的解釋。從測(cè)定光譜線的絕強(qiáng)度轉(zhuǎn)到測(cè)量譜線的相對(duì)強(qiáng)度的應(yīng)用，使光譜分析方法從定性分析發(fā)展到定量分析創(chuàng)造基礎(chǔ)。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構(gòu)，專(zhuān)利光學(xué)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)異常堅(jiān)固，同時(shí)減少了內(nèi)部空間體積。從而使光譜分析方法逐漸走出實(shí)驗(yàn)室，在工業(yè)部門(mén)中得到廣泛應(yīng)用。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

國(guó)內(nèi)大多數(shù)鑄造及大型鋼鐵企業(yè)通過(guò)先進(jìn)儀器迅速提高了分析檢測(cè)裝備水平。

目前，光電直讀光譜儀已成為鑄件化學(xué)成分分析的首儀器，X熒光光譜分析儀則是生鐵和其它礦類(lèi)樣化學(xué)成分分析的首儀器。由于這類(lèi)儀器集光、機(jī)、電、算（計(jì)算機(jī)）等方面的新技術(shù)于一體，配備相當(dāng)精密的物理與幾何光學(xué)系統(tǒng)，精密機(jī)械系統(tǒng)，電子傳感測(cè)量系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)控制與數(shù)據(jù)處理及人機(jī)界面系統(tǒng)。另外，它不需要額外的冷卻裝置，降低采購(gòu)和使用成本，完全消除外部冷卻裝置所引發(fā)的故障。使其具有的選擇性好、靈敏度、準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性高的性能，又具快速化、自動(dòng)化、智能化、多功能的特點(diǎn)。

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