儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測試法

六、非破壞熒光式（X光）

具體講下渦流測厚儀原理如下：

1.渦流測厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時(shí)，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。1、鋼結(jié)構(gòu)柱、梁,在構(gòu)件長度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測試構(gòu)件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂刷厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

    影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

(2)強(qiáng)磁場的干擾。我們曾做過一個(gè)簡單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)，測量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

   (3)人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。

江蘇一六儀器有限公司是一家光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的企業(yè)。2、關(guān)機(jī):掃描儀：如遇突發(fā)事件，應(yīng)立即按下急停開關(guān)，停止掃描。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。歡迎咨詢聯(lián)系！

如何選擇測厚儀的測點(diǎn)

    如何選擇測厚儀的測點(diǎn)位置？我們想要使用測厚儀測量物品厚度，前提是有測點(diǎn)位置，相當(dāng)于我們的需要選擇一個(gè)固為零值一樣，如此才能夠測量出具體厚度。

 1、鋼結(jié)構(gòu)柱、梁,在構(gòu)件長度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測試構(gòu)件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂刷厚度.

   2、桁架結(jié)構(gòu)、梁,在上、下弦和腹桿的長度方向內(nèi)每隔1m取一個(gè)截面,測定桿件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂層厚度.頂板和鋼樓梯,在每平方范圍內(nèi)選取5個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測定,計(jì)算所有測點(diǎn)的平均值作為該構(gòu)件的涂層厚度.

一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x

儀器規(guī)格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

儀器重量 ：55kg

供電電源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對濕度：<70%

測厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測厚儀的分類，也就是說測厚儀是膜厚儀的上司一樣，對此我們也可以來了解下測厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測厚儀按原理分類:激光測厚儀、超聲波測厚儀、X射線測厚儀、壓力測厚儀、白光干涉測厚儀、電解式測厚儀、機(jī)械接觸式測厚儀。

測厚儀的原理：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。下面就來了解下：1、測厚儀原理--激光測厚儀激光測厚儀：此類測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。