分辨率測(cè)試卡的測(cè)試原理

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1 將分辨率測(cè)試卡緊貼在工件上（或膠片暗袋或）離射線源較近一側(cè)的表面上，按照一定的工藝條件進(jìn)行透照，經(jīng)暗室處理后在底片上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影象，其中觀察到柵條剛好分離的一組線對(duì)，則該組線對(duì)所對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)即為底片（或照相系統(tǒng)）的分辯率。用分辨率測(cè)試卡測(cè)定X射線成像系統(tǒng)的可視分辨率，成像系統(tǒng)的分辨率，測(cè)試成像系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)。

2 將分辨率測(cè)試卡緊貼在工件上離射線源較近一側(cè)的表面上（或圖象增強(qiáng)器輸入屏表面中心區(qū)域），按照一定的工藝條件進(jìn)行透照，在顯示器上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影象，其中觀察到柵條剛好分離的一組線對(duì)，則該組線對(duì)所對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)即為圖像（或成像系統(tǒng)）的分辯率。產(chǎn)品特點(diǎn)：符合ISO15739標(biāo)準(zhǔn)，用于測(cè)試成像系統(tǒng)的噪點(diǎn)和動(dòng)態(tài)范圍。

圖像測(cè)試卡規(guī)格選擇——SFRplus測(cè)試卡

以下內(nèi)容由正印科技為您提供，希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助。

需要知道如何去選擇測(cè)試卡的參數(shù)規(guī)格，比如測(cè)試卡的材料，圖案類型，尺寸大小，高寬比等等。

SFRplus測(cè)試卡是imatest運(yùn)用較廣，功能較全方面的測(cè)試卡，可以測(cè)試圖像分辨率，色彩還原，動(dòng)態(tài)范圍，白平衡，畸變，橫向色差，等等圖像大部分的測(cè)試參數(shù)。

該測(cè)試卡有幾種對(duì)比度選項(xiàng)：

一、4：1對(duì)比度：符合較新的ISO-12233細(xì)則。

二、10：1加上2：1對(duì)比度：使用兩種對(duì)比度分析非線性信號(hào)處理。

三、10：1對(duì)比度：提升圖像表面3D表現(xiàn)的完整性。

西門子星狀圖

西門子星狀圖書與ISO12233:2014標(biāo)準(zhǔn)是一致的。印刷在粗面紙上。The modulation of the radial sinusoidal patern is close to a 50:1 contrast ratio.

細(xì)節(jié)：

（1）Target allows multiple samples of MTF measurements to be taken from any point within the circumference of the circle.

（2）可以在Imatest軟件的星狀圖模塊上測(cè)量清晰度

（3）比起eSFR分析來說西門子星狀圖對(duì)圖像處理不太敏感。

（4）有用于提高測(cè)試重復(fù)性設(shè)計(jì)的噪點(diǎn)。

（5）包含用于對(duì)比的低對(duì)比度的水平和垂直方向的雙曲線。

（6）比起雙曲線在位置選擇上變化的差異小。

（7）可以從各個(gè)角度，如水平、垂直、徑向和切向等測(cè)量清晰度。

（8）包含用于自動(dòng)識(shí)別分析的標(biāo)識(shí)

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