大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

考慮到表面粗糙度測量的膜厚值[FE-0007]

當(dāng)樣品表面存在粗糙度（粗糙度）時，將表面粗糙度和空氣（air）及膜厚材料以1：1的比例混合,模擬為“粗糙層”，可以分析粗糙度和膜厚度。此處示例了測量表面粗糙度為幾nm的SiN（氮化硅）的情況。

膜厚測試儀調(diào)校步驟：選擇要調(diào)校的產(chǎn)品程式；選擇菜單“調(diào)校---調(diào)?！遍_始進行“調(diào)?！逼聊蛔笙陆堑闹噶畲翱跁霈F(xiàn),按“確定”結(jié)束調(diào)校。

膜厚儀直接的鍍膜操縱方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，此法可以直接驅(qū)動蒸發(fā)祥，通過PID控制循環(huán)驅(qū)動擋板，保持蒸發(fā)速率。只有將儀器與系統(tǒng)控制軟件相連接，它就可能節(jié)制全體的鍍膜進程。然而QCM的正確度是有限的，部分起因是由于它監(jiān)控的是被鍍膜的質(zhì)量而不是其光學(xué)厚度。