儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.

測(cè)厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測(cè)厚儀

四、電解式（庫(kù)倫法）

五、金相測(cè)試法

六、非破壞熒光式（X光）

具體講下渦流測(cè)厚儀原理如下：

1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。測(cè)厚儀主要類型用于測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。

2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

性能優(yōu)勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

   率的jie shou qi ：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

 我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來(lái)了解下先：

三、操作步驟

4. 判斷是否需要校準(zhǔn)儀器。如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行校 準(zhǔn)；

  5.  測(cè)量。將測(cè)頭垂直接觸工件的測(cè)量面，并輕壓測(cè)頭的加載套，當(dāng) 測(cè)頭與被測(cè)工件表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標(biāo)識(shí)和測(cè)量值。如果測(cè)量標(biāo)識(shí)閃爍或無(wú)測(cè)量標(biāo)識(shí)則表示測(cè)頭不穩(wěn)定.移開(kāi)測(cè)頭后，測(cè)量標(biāo)識(shí)消失，厚度值保持。

  6.  儀器關(guān)機(jī)

一六儀器  一liu品質(zhì)！各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題歡迎咨詢聯(lián)系！

影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

  影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過(guò)程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見(jiàn)，也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對(duì)影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

(4) 在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體?；w較面為7mm，較小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

   (5)儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響。X射線測(cè)厚儀的測(cè)量原理就是通過(guò)施加高壓電源出X射線,通過(guò)X射線的穿透物體時(shí)的衰減量來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會(huì)對(duì)測(cè)厚儀的準(zhǔn)確度造成一定的影響。安裝的位置不當(dāng)就會(huì)使測(cè)量的精度不準(zhǔn)確波動(dòng)比較明顯。另外,X射線本身的衰減也會(huì)影響測(cè)厚儀的測(cè)量精度。本公司先進(jìn)的技術(shù)，you秀的良將，嚴(yán)格的企業(yè)管理是不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。