廣州勱博——粒度計(jì)數(shù)儀報(bào)價

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平，升級版PIDS專利技術(shù)（專利號：4953978；5104221）、優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準(zhǔn)確，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異。

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全自動運(yùn)算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報(bào)告。升級版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實(shí)現(xiàn)10nm下限峰值測量。PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強(qiáng)大，真正10nm的測量可使其作為獨(dú)立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

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內(nèi)嵌電腦操作系統(tǒng)和熱敏打印機(jī)，不用外接電腦上和復(fù)印機(jī)可立即檢測和復(fù)印。具備規(guī)范串行RS232口，能外接電子計(jì)算機(jī)儲存檢驗(yàn)結(jié)果，便捷數(shù)據(jù)分類、查找。可按中國藥典、美國藥典、ISO21510等規(guī)范開展校準(zhǔn)、校正。依據(jù)顧客規(guī)定可有償服務(wù)出示高級國家西南計(jì)量檢定檢測中心的校正匯報(bào)。