EMC測(cè)試介紹

EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類(lèi)靜電放電騷擾時(shí)的性能。

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關(guān)于EMC的常見(jiàn)縮略語(yǔ)介紹

EMC (Electromagnetic Compatibility)：電磁兼容性

EMI (Electromagnetic Interference)：電磁干擾

EMS (Electromagnetic Susceptibility)：電磁抗擾度

OATS (Open Area Test Site) ：開(kāi)闊場(chǎng)

EUT (Equipment Under Test)：受試設(shè)備

CE：字母 'CE' 是法文句子 'Conformité Européene' 的縮寫(xiě)，意指歐盟。

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常見(jiàn)EMC測(cè)試項(xiàng)目-RE

RE主要是考察設(shè)備在正常工作時(shí)自身對(duì)外界的輻射的干擾強(qiáng)度，測(cè)試頻段根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)要求不同，在CISPR 11中，主要測(cè)試頻段為30～1000MHz，值得注意的是設(shè)備進(jìn)行RE測(cè)試時(shí)標(biāo)準(zhǔn)要求盡可能滿配置、滿負(fù)荷的運(yùn)行。RE問(wèn)題是EMC中的難點(diǎn)。主要因?yàn)镽E設(shè)計(jì)產(chǎn)品EMC設(shè)計(jì)的各個(gè)環(huán)節(jié)：屏蔽、濾波、接地；

在RE測(cè)試中，天線的高度、天線的極化方向以及轉(zhuǎn)臺(tái)的角度都需要不斷改變，以求檢測(cè)到設(shè)備輻射的大點(diǎn)。

RE測(cè)試可以在開(kāi)闊場(chǎng)和半電波暗室內(nèi)進(jìn)行；

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電磁兼容的主要研究對(duì)象

①各種人為噪聲，如輸電線電暈噪聲、汽車(chē)噪聲、接觸器自身噪聲及導(dǎo)體開(kāi)臺(tái)時(shí)放電引起的噪聲、電氣機(jī)車(chē)噪聲、城市噪聲等。②共用走廊內(nèi)各種公用事業(yè)設(shè)備（輸電線、通信、鐵路、公路、石油金屬管線等）相互間的影響。③超高層建筑、輸電線、鐵塔等大型建筑物引起的反射問(wèn)題。④電磁環(huán)境對(duì)人類(lèi)及各種生物的作用。其中包括強(qiáng)電線等工頻場(chǎng)，中、短波及微波電磁輻射的影響。

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