一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

用轉移法測量塑膠產品上涂層時注意事項：

由于對塑膠產品上涂層的測量，如使用超聲波發(fā)測量時，經常因涂層與基材發(fā)生相溶而沒有較好的聲波反射面，從而導致測量失敗或讀值嚴重偏差。由于受樣品的基體效應等影響較大，因此，對于標注樣品要求很嚴格，只有標準樣品與實際樣品集體和表面狀態(tài)相似，才能保證定量結果的準確性。如使用切鍥法，也多有使用不方便和讀數困難的地方。所以目前便攜式電子產品生產廠普遍使用轉移法測量塑膠產品上涂層，先在產品上蓋若干小條標準厚度的聚酯薄膜，再用紙基美紋膠壓住兩頭，留出中間部分。將該產品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產、銷售的高新技術企業(yè)。1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經驗，經與海內外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領域。

熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素量分析。注意到這一點，如果預先知道已知濃度樣品的熒光X射線強度，就可以推算出樣品中元素1的含量。但是由于影響熒光X射線的強度的因素較多，除待測元素的濃度外，儀器校正因子，待測元素X射線熒光強度的測定誤差，元素間吸收增加效應校正，樣品的物理形態(tài)（如試樣的均勻性、厚度，表面結構等）等都對定了分析結果產生影響。由于受樣品的基體效應等影響較大，因此，對于標注樣品要求很嚴格，只有標準樣品與實際樣品集體和表面狀態(tài)相似，才能保證定量結果的準確性。

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測厚儀在電鍍行業(yè)的應用

     由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。

      PCB線路板主要有鍍金，鍍鎳，鍍銅，鍍銀，鍍錫等種類。其電鍍工藝流程如下：

浸酸→全板電鍍銅→圖形轉移→酸性除油→二級逆流漂洗→微蝕→二級浸酸→鍍錫→二級逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級逆流漂洗→鍍鎳→二級水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級純水洗→烘干。

      對于PCB生產企業(yè)來說，厚度的有效控制能做到有效的節(jié)約成本，又能滿足客戶需求，做到耐氧化、耐磨等。005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都沒有難度，讓操作人員輕松自如。而X射線熒光鍍層測厚法是PCB工業(yè)檢測電鍍厚度的有效手段。下面介紹一款x射線熒光膜厚測厚儀XTU-BL。利用XRF無損分析技術檢測鍍層厚度的儀器就叫X射線測厚儀，又膜厚測試儀，鍍層檢測儀，XRF測厚儀，PCB鍍層測厚儀，金屬鍍層測厚儀等。X射線能同時實現多鍍層厚度分析。在實際應用中，多采用實際相近的鍍層標注樣品進行比較測量（即采用標準曲線法進行對比測試的方法）來減少各層之間干擾所引起的測試精度問題。