光學顯微鏡是以可見光為光源觀測物體的

光學顯微鏡是以可見光為光源觀測物體的，因此分辨率只能達到約200nm，而電子顯微鏡一般是用電子束掃描或透射的，電子束的波長隨著能量（電壓）加大而縮短，當電壓為50～100kv時，波長約為0.0053～0.0037nm之間。 電子顯微鏡不是通過人眼直接觀察看到的物體的，更貼切的說應該是靠“摸”，電子束或者X射線、伽馬射線轟擊到被檢測物體上，把“摸”到的信號記錄下來或收集起來，這種信號有透射物體時“感受到”的物體形態(tài)，或發(fā)射到物體上被激發(fā)出的次級電子輻射形態(tài)，通過電腦分析成像用顯示屏顯示出來。

顯微鏡比對模式

顯微鏡比對模式： 1、 可將實時影像中的實際工件進行拍照（包含影像上所標注的尺寸及線條圖形），并可以JPEG格式儲存于計算機中，形成產(chǎn)品圖庫。 2、 可將存于圖庫中的JPEG圖檔打開，并與同一畫面中實時的影像相互比對。 注： 1、影像式金相測量顯微鏡可將以往用肉眼在傳統(tǒng)顯微鏡下所觀察之影像將其數(shù)字化并轉(zhuǎn)換至計算機中作各式的繪圖及測量，再可將所得到的數(shù)據(jù)及圖形數(shù)據(jù)儲存于計算機中，以便數(shù)據(jù)存盤及電子郵件發(fā)送。 2、適用于微型芯片電路檢測、PCB板或其它金屬鍍層厚度檢測，金屬表面結(jié)構分析及其它高倍顯微檢測。用途：可供觀察和檢測各種PCB線路板、LCD液晶顯示板、金屬金相組織，研潤企業(yè)生產(chǎn)其舒適精致的鏡體機構、輕松快捷的操作方式，是工礦企業(yè)工業(yè)光學檢測儀器及學校金相教學用儀器的；流線型、高穩(wěn)定性的鏡體設計，使用方便、功能齊全，適合在單偏光、正偏光及錐光下觀察礦物的晶體形狀、著色、干涉色等，并準確地鑒定各種礦物或其它晶體試樣薄片的光學性質(zhì)。.

金相試樣制備過程及注意事項

金相試樣制備過程一般包括：取樣、粗磨、細磨、拋光和浸蝕五個步驟。 取樣 從需要檢測的金屬材料和零件上截取試樣稱為“取樣”。取樣的部位和磨面的選擇必須根據(jù)分析要求而定。截取方法有多種，對于軟材料可以用鋸、車、刨等方法;對于硬材料可以用砂輪切片機或線切割機等切割的方法，對于硬而脆的材料可以用錘擊的方法。無論用哪種方法都應注意，盡量避免和減輕因塑性變形或受熱引起的組織失真現(xiàn)象。試樣的尺寸并無統(tǒng)一規(guī)定，從便于握持和磨制角度考慮，一般直徑或邊長為15~20mm，高為12~18mm比較適宜。對那些尺寸過小、形狀不規(guī)則和需要保護邊緣的試樣，可以采取鑲嵌或機械夾持的辦法。 金相試樣的鑲嵌，是利用熱塑性塑料(如聚)，熱凝性塑料(如膠木粉)以及冷凝性塑料(如環(huán)氧樹脂 固化劑)作為填料進行的。前兩種屬于熱鑲填料，熱鑲必須在專用設備一鑲嵌機上進行。第三種屬于冷鑲填料。