一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀操作規(guī)程有哪些？測厚儀在使用過程中，如果操作不規(guī)范，很容易導致測厚儀出現(xiàn)故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規(guī)范及一些常見問題的處理方法：

四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管；

2、應有妥善的保管場所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區(qū)一米遠）；

3、長期不使用時,應放置保管場所；

4、衛(wèi)生

5、應定期清理主機和探頭外表面，對源鉛罐上表面也要定期清理。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。

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性能優(yōu)勢：

下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

精密微型滑軌：快速精準定位樣品。

EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

如何安裝X射線測厚儀

2) C型架按運行軌跡定位，并作感觀質(zhì)量檢查。

   3) C型架落入導軌后，就進行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應順著撓性履帶的走向固定牢固。

   4) 儀表柜、主控臺，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據(jù)現(xiàn)場施工條件分頭進行吊裝。

   5) 電纜敷設，除同軸電纜外還包括控制系統(tǒng)電纜和測量信號系統(tǒng)電纜。