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我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類(lèi)生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。如何準(zhǔn)確有效地檢測(cè)元器件的相關(guān)參數(shù),判斷元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,從而判斷元器件的正常與否。
故障特點(diǎn) /電子元器件
電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量,但其故障卻是有規(guī)律可循的。
電解電容損壞的特點(diǎn)電解電容在電器設(shè)備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn):
一是失去容量或容量變小;
二是輕微或嚴(yán)重漏電;
三是失去容量或容量變小兼有漏電。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類(lèi)生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。半導(dǎo)體器件損壞特點(diǎn)二、三極管的損壞是PN結(jié)擊穿或開(kāi)路,其中以擊穿短路居多。
查找損壞的電解電容方法有:
(1)看:有的電容損壞時(shí)會(huì)漏液,電容下面的電路板表面甚至電容外表都會(huì)有一層油漬,這種電容絕1對(duì)不能再用;有的電容損壞后會(huì)鼓起,這種電容也不能繼續(xù)使用;隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,現(xiàn)代社會(huì)與電子技術(shù)息息相關(guān),超小型移動(dòng)電話、超小型步話機(jī)、便攜式計(jì)算機(jī)、存儲(chǔ)器、硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器、光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器、高清晰度電視機(jī)等都對(duì)產(chǎn)品的小型化、輕型化提出了苛刻的要求。因此,在前期選擇電容的時(shí)候,就應(yīng)該把好質(zhì)量關(guān),盡量選擇品牌的電容,如電容巨頭——國(guó)巨電容。
(2)摸:開(kāi)機(jī)后有些漏電嚴(yán)重的電解電容會(huì)發(fā)熱,用手指觸摸時(shí)甚至?xí)C手,這種電容更換;
(3)電解電容內(nèi)部有電解液,長(zhǎng)時(shí)間烘烤會(huì)使電解液變干,導(dǎo)致電容量減小,要重點(diǎn)檢查散熱片及大功率元器件附近的電容,離其越近,損壞的性就越大。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類(lèi)生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。檢測(cè)方法/電子元器件中周變壓器的檢測(cè)A將萬(wàn)用表?yè)苤罵×1擋,按照中周變壓器的各繞組引腳排列規(guī)律,逐一檢查各繞組的通斷情況,進(jìn)而判斷其是否正常。
檢測(cè)方法/電子元器件
電解電容器的檢測(cè)
A 因?yàn)殡娊怆娙莸娜萘枯^一般固定電容大得多,所以,測(cè)量時(shí),應(yīng)針對(duì)不同容量選用合適的量程。根據(jù)經(jīng)驗(yàn),一般情況下,1~47μF間的電容,可用R×1k擋測(cè)量,大于47μF的電容可用R×100擋測(cè)量。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類(lèi)生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。檢測(cè)方法/電子元器件電解電容器的檢測(cè)對(duì)于正、負(fù)極標(biāo)志不明的電解電容器,可利用上述測(cè)量漏電阻的方法加以判別。
僅有橫截面X射線檢測(cè)技術(shù),例如:X射線分層法,能夠克服上述條件的制約。橫截面X射線檢測(cè)技術(shù)具有能夠查出隱藏的焊接點(diǎn)缺陷的能力,通過(guò)對(duì)焊盤(pán)層焊接點(diǎn)的聚焦,能夠揭示出BGA焊接點(diǎn)的連接情況。在同樣的情況下,采用X射線設(shè)各所獲得的圖像中,實(shí)際情況可能被隱藏掉了,從而不能夠反映出真實(shí)的情況。檢測(cè)方法/電子元器件電解電容器的檢測(cè)A因?yàn)殡娊怆娙莸娜萘枯^一般固定電容大得多,所以,測(cè)量時(shí),應(yīng)針對(duì)不同容量選用合適的量程。