一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。后的測(cè)量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測(cè)量不確定度和測(cè)量精度。

   參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過(guò)規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標(biāo)準(zhǔn)塊，將是可靠的。8分析應(yīng)用軟件操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺(tái)中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包。合金組成的測(cè)定，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同，但應(yīng)當(dāng)已知。

金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片，就必須注意確保接觸清潔，無(wú)皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測(cè)量允許，否則必須進(jìn)行補(bǔ)償后再測(cè)。

2．標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇

可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來(lái)校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對(duì)試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測(cè)試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶。

3．標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過(guò)比較被測(cè)試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度，然后通過(guò)軟件達(dá)到對(duì)儀器的校正。

X-RAY測(cè)厚儀特點(diǎn)

1，價(jià)格高，機(jī)種不同，價(jià)格在10萬(wàn)~100萬(wàn)左右，可測(cè)試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。

 2，無(wú)損檢測(cè)，Windows操作系統(tǒng)，使用簡(jiǎn)便。操作快速，能適應(yīng)多類鍍層，大量檢測(cè)，但體積較大，計(jì)算機(jī)除外約100000cm2，50000g左右。

3，測(cè)量厚度范圍較廣，

0.002um~100um左右，能測(cè)試5層以上膜厚，并且可以測(cè)量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

4，測(cè)量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，測(cè)頭的面積較小，對(duì)需測(cè)的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測(cè)量，基材厚度無(wú)要求。

6，可編程XYZ測(cè)量臺(tái)及大移動(dòng)范圍。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X熒光光譜儀原理及應(yīng)用領(lǐng)域

一、簡(jiǎn)單原理

      每個(gè)元素受高能輻射激發(fā)，即發(fā)射出具有一定特征的X射線譜線。通過(guò)軟件測(cè)試分析得出該譜線波長(zhǎng)，即可知道是那種元素（定性）；通過(guò)分析測(cè)試其強(qiáng)度，得出該元素含量（定量）。X熒光光譜分析是一種非常常見的分析技術(shù)，

二、應(yīng)用領(lǐng)域

     X熒光光譜儀作為一種常見的分析技術(shù)手段，在現(xiàn)實(shí)生活中有著非常廣泛的應(yīng)用，主要可以分為以下四大類：

1.鍍層行業(yè)

     電鍍行業(yè)尤其以工業(yè)電鍍?yōu)橹鳎诠I(yè)生產(chǎn)中，通常我們?yōu)榱水a(chǎn)品尤其是金屬類能達(dá)到一定的性能會(huì)在其表面鍍上另一種金屬，這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控，而X熒光光譜儀就是其best的管控者。

2.重金屬檢測(cè)

      我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關(guān)聯(lián)，但這其中也許就含有對(duì)我們?nèi)梭w是有害的重金屬，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長(zhǎng)期接觸會(huì)導(dǎo)致人體的病變甚至，為了使用安全，工業(yè)生產(chǎn)時(shí)需對(duì)產(chǎn)品重金屬檢測(cè)管控（RoHS檢測(cè)），而X熒光儀器就能對(duì)其進(jìn)行監(jiān)測(cè)。準(zhǔn)直器任意選擇或者任意切換最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度：9%測(cè)量距離：具有距離補(bǔ)償功能，可改變測(cè)量距離，能測(cè)量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級(jí)到90mm)樣品觀察：1/2。

3.元素成分分析

      元素成分分析應(yīng)用也是更加廣泛，如巖石礦產(chǎn)的開發(fā)開采，鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會(huì)大大改變其物理性質(zhì)，為達(dá)到這種物理性質(zhì)就需要控制相關(guān)元素的含量，通過(guò)X熒光儀器的檢測(cè)就可以很好的生產(chǎn)出我們所需的物品，另外還可以利用成分分析原理對(duì)珠寶首飾進(jìn)行真假鑒定。005um江蘇一六儀器X熒光測(cè)厚儀測(cè)試要求：工作要求：1環(huán)境溫度要求：15℃-30℃2環(huán)境相對(duì)濕度：<。

4.古董的檢測(cè)

     X熒光儀器在古董的檢測(cè)鑒定上也起著重要的作用，通過(guò)儀器檢測(cè)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定性分析可得其元素成分，從而對(duì)產(chǎn)品的年限進(jìn)行一個(gè)判斷，得出結(jié)論。