【廣告】
儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析,
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.
測(cè)厚儀分類:
一、磁性式
二、渦電流式
三、紅外測(cè)厚儀
四、電解式(庫(kù)倫法)
五、金相測(cè)試法
六、非破壞熒光式(X光)
具體講下渦流測(cè)厚儀原理如下:
1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí),由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理,可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。
一六儀器 X-RAY測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家,歡迎來(lái)電咨詢!
測(cè)厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用!
一六儀器提供的測(cè)厚儀可測(cè)試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng):⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
一六儀器 光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家 一六儀器一liu品質(zhì),可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來(lái)電咨詢!
測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些?測(cè)厚儀在使用過(guò)程中,如果操作不規(guī)范,很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問(wèn)題,因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見(jiàn)問(wèn)題的處理方法:
一.操作步驟
1、開(kāi)機(jī):
掃描儀:首先確定掃描移動(dòng)部分位于兩個(gè)光電開(kāi)關(guān)之間,打開(kāi)電控 箱急停開(kāi)關(guān),然后按下“自動(dòng)”紅色按鈕。掃描儀開(kāi)始掃描 測(cè)厚儀:確認(rèn)源開(kāi)關(guān)打開(kāi)后,打開(kāi)測(cè)厚儀主機(jī)和探頭電源。預(yù) 熱半小時(shí)后方可投入使用。
2、關(guān)機(jī):
掃描儀:如遇突發(fā)事件,應(yīng)立即按下急停開(kāi)關(guān),停止掃描。正常情 況下先按下“自動(dòng)”紅色按鈕停止掃描,后按下急停開(kāi)關(guān)。
測(cè)厚儀:關(guān)測(cè)厚儀主機(jī)和探頭電源。
江蘇一六儀器有限公司 X射線熒光光譜測(cè)厚儀
先進(jìn)的技術(shù),專業(yè)的團(tuán)隊(duì),嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。歡迎咨詢聯(lián)系!
性能優(yōu)勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002m㎡的樣品,可測(cè)試各微小的部件。