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一六儀器 國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng):1.測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
2.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
3在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)
4.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
江蘇一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀
應(yīng)用領(lǐng)域:
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)
X射線測(cè)厚儀的安全問(wèn)題:
其實(shí)從科學(xué)的角度分析,20Kv的X射線能量本身就很低,不知道你見(jiàn)過(guò)牙片機(jī)嗎?那個(gè)還60KV以上呢,從你給的這個(gè)數(shù)值來(lái)看應(yīng)該是測(cè)量紙或者鋁箔之類的低密度、很薄的物品的,這樣看來(lái),即便這中能量的X射線一直不停的對(duì)直你本人進(jìn)行照射都不會(huì)有問(wèn)題,何況還是折射和衍射,折射和衍射后的能量與原來(lái)的能量比是非常非常低的,200CI的Co-60源產(chǎn)生的射線,經(jīng)過(guò)6次折射可以達(dá)到環(huán)境水平,可見(jiàn)能量損耗之強(qiáng),衍射就更不用說(shuō)了 ,這種能量的X射線根本就不會(huì)有衍射產(chǎn)生的,不用擔(dān)心,所以,切莫恐慌。5μm測(cè)量速度:較高9400Hz測(cè)量距離:10~200mm被測(cè)體水平方向運(yùn)動(dòng)速度較高560m/min。
一六儀器-------鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x
X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素
X射線源的衰減對(duì)于工廠現(xiàn)場(chǎng)的的標(biāo)定過(guò)程中,隨著使用時(shí)間的增加,燈管的曲線會(huì)發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時(shí)間的遞加,厚度偏差會(huì)越來(lái)越大,因此,X射線源的衰減,是影響測(cè)量精度的一個(gè)主要原因。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。除了正常使用過(guò)程中X射線源會(huì)出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會(huì)發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過(guò)不過(guò),反饋的電壓與工廠現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度肯定是不準(zhǔn)確的。