高低溫試驗(yàn)箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗(yàn).高低溫試驗(yàn)箱采用可程式控制，易于操作，觀察;高低溫試驗(yàn)箱的制冷機(jī)采用全封閉式的壓縮機(jī)，冷凍系統(tǒng)采用用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì);高低溫試驗(yàn)箱的風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。

怎樣評(píng)估恒溫恒濕箱的優(yōu)劣?

環(huán)境條件參數(shù)的可測(cè)控性

　任何一臺(tái)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備所提供的環(huán)境條件必須是可觀測(cè)的和可控制的，紫外光老化試驗(yàn)箱這不僅是為了使環(huán)境參數(shù)限制在一定的容差范圍之內(nèi)，保證試驗(yàn)條件的再現(xiàn)性和重復(fù)性的要求，而且從產(chǎn)品試驗(yàn)的安全出發(fā)也是必須的，紫外光老化試驗(yàn)箱以便防止環(huán)境條件失控導(dǎo)致被試產(chǎn)品的損壞，帶來不必要的損失。目前各種試驗(yàn)規(guī)范中大體要求參數(shù)測(cè)試的精度不應(yīng)低于試驗(yàn)條件允許的誤差的三分之一。