帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡SEM

掃描電子顯微鏡 　　掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM）放大倍數(shù)（不同型號(hào)有差異）約2~200000，連續(xù)可調(diào)，分辨率可達(dá)幾納米。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 　　SEM 主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)【當(dāng)一束極細(xì)的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng)（聲子)、電子振蕩（等離子體）】，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。 　　二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。

掃描隧道顯微鏡在工作時(shí),就如同一根唱針掃過一張唱片,一根探針

掃描隧道顯微鏡在工作時(shí)，就如同一根唱針掃過一張唱片，一根探針慢慢地接近要被分析的材料（針尖極為尖銳，僅僅由一個(gè)原子組成）。一個(gè)小小的電荷被放置在探針上，一股電流從探針流出，通過整個(gè)材料，到底層表面。當(dāng)探針通過單個(gè)的原子，流過探針的電流量便有所不同，這些變化被記錄下來。通過繪出電流量的波動(dòng)，人們可以得到組成一個(gè)網(wǎng)格結(jié)構(gòu)的原子的美麗圖片。

偏光鏡檢術(shù)的要求是什么

偏光鏡檢術(shù)的要求 1、載物臺(tái)的中心與光軸同軸。 2、起偏鏡和檢偏鏡應(yīng)處于正交位置。 3、制片不宜過薄。 顯微鏡的分類和特點(diǎn) 體視顯微鏡 體視顯微鏡又稱"實(shí)體顯微鏡"或"解剖鏡"。由一個(gè)共用的初級(jí)物鏡，對(duì)物體成像后的兩光束被兩組中間物鏡變焦分開，并成一體視角再經(jīng)各自的目鏡成像，它的倍率變化是由改變中間鏡組之間的距離而獲得。是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、農(nóng)林、工業(yè)及海洋生物各部門。