EMC測(cè)試介紹

EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時(shí)的性能。

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EMC：Electromagnetic compatibility 電磁兼容性

EMC定義：在同一電磁環(huán)境中，設(shè)備能夠不因?yàn)槠渌O(shè)備的干擾影響正常工作，同時(shí)也不對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生影響工作的干擾。

EMC三要素，缺少任何一個(gè)都構(gòu)不成EMC問題。

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電磁兼容的發(fā)展

電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展，電和磁無時(shí)無刻不在影響著人們的生活及生產(chǎn)，電磁能的廣泛應(yīng)用，使工業(yè)技術(shù)的發(fā)展日新月異。電磁能在為人類創(chuàng)造巨大財(cái)富的同時(shí)，也帶來一定的危害，被稱為電磁污染，研究電磁污染是環(huán)境保護(hù)中的重要分支。以往人們把無線電通訊裝置受到的干擾，稱為電磁干擾，表明裝置受到外部干擾侵入的危害，其實(shí)它本身也對(duì)外部其他裝置造成危害，即成為干擾源。因此必須同時(shí)研究裝置的干擾和被干擾，對(duì)裝置內(nèi)部的組織和裝置之間要注意其相容性。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，日益廣泛采用的微電子技術(shù)和電氣化的逐步實(shí)現(xiàn)，形成了復(fù)雜的電磁環(huán)境。不斷研究和解決電磁環(huán)境中設(shè)備之間以及系統(tǒng)間相互關(guān)系的問題，促進(jìn)了電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展。

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