基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

CCD光學(xué)系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內(nèi)的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學(xué)系統(tǒng)可設(shè)置108個光電倍增管。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復(fù)雜缺點和降低了用戶使用成本。每個光電管通道都有是一個微積分器，具有TRS（時間分解光譜技術(shù)）分析痕量元素和SSE（單火花評估技術(shù)）分析元素相態(tài)。事實上，所有分析要求都可以在M12中無折衷地實現(xiàn)。

光譜儀器是測量、分析和處理物質(zhì)結(jié)構(gòu)和成分的基本設(shè)備，按光譜范圍可分為真空紫外光譜儀、紫外-近紅外光譜儀和紅外光譜儀。

光譜儀主要由光源、分光系統(tǒng)和接收系統(tǒng)3部分組成。其中分光系統(tǒng)是光譜儀器的主體，而衍射光柵（以下簡稱光柵）是分光系統(tǒng)的核心部分，它使復(fù)色光發(fā)生空間分離形成光譜。因此，光譜技術(shù)的進步及發(fā)展與光柵制造技術(shù)水平息息相關(guān)。2，技術(shù)人員在操作分析儀器之前，應(yīng)當(dāng)熟讀儀器產(chǎn)品說明書，或者觀看儀器廠商人員現(xiàn)場演示。根據(jù)光譜儀器的工作原理，光柵在較寬的波段范圍都有較高的衍射效率（衍射光能量與入射光能量之比），同時整個衍射效率曲線比較平滑，這是光柵制造領(lǐng)域始終追求的目標(biāo)之一。而相較于單閃耀角光柵，寬波段光柵在光譜分析領(lǐng)域具有更獨特且的優(yōu)勢，其光譜更寬，能滿足多種光譜儀全波段使用的需求，使成像探測器更加簡單。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

國產(chǎn)直讀光譜分析儀器1928年以后，由于光譜分析成了工業(yè)的分析方法，光譜儀器得到迅速的發(fā)展，一方面改善激發(fā)光源的穩(wěn)定性，另一方面提高光譜儀器本身性能。六十年代光電直讀光譜儀，隨著計算機技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展，1964年ARL公司展示一套數(shù)字計算和控制讀出系統(tǒng)。中國科院電工研究所研究員肖立業(yè)告訴記者：“隨著人類對自然的認識向更加微觀的時空尺度、更大的宇宙時空尺度和更加極端的物理條件方向發(fā)展，傳統(tǒng)的科研手段已經(jīng)不能完全勝任。由于計算機技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計算機的小型化及微處理機的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實現(xiàn)自動化控制。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在實際分析中會受到第三元素的影響，這些干擾從何而來，我們能夠克服它們得到一個好的分析結(jié)果嗎？直讀光譜儀應(yīng)用的過程中受那些干擾?直讀光譜儀中有關(guān)第三元素影響的問題

當(dāng)選擇了不適宜的基體內(nèi)標(biāo)時，由于基體含量的變化造成分析線對相對強度的變化，影響結(jié)果的穩(wěn)定。當(dāng)用鐵內(nèi)標(biāo)進行低合金鋼分析時，要求基體含量基本不變。

第三元素的存在影響試樣的蒸發(fā)過程。蒸發(fā)過程對譜線強度的影響是復(fù)雜的，所得研究規(guī)律還很不完善，仍屬定性的經(jīng)驗規(guī)律。所以分析時應(yīng)采用與試樣組成及組織結(jié)構(gòu)盡量一致的標(biāo)準(zhǔn)樣品或控制樣品。

次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制