低本底測(cè)量?jī)x主要技術(shù)指標(biāo)

主要技術(shù)指標(biāo)

儀器對(duì)于90Sr-90Yβ源（活性區(qū)Φ20mm）的2π探測(cè)效率比≥50％時(shí)， 本底≤0.15cm-2min-1；

儀器對(duì)于241Amα源（活性區(qū)Φ25mm）的2π探測(cè)效率比≥80％時(shí)， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α進(jìn)入β道的計(jì)數(shù)比＜3％（對(duì)241Am）， β進(jìn)入α道的計(jì)數(shù)比＜0.5％（對(duì)于90Sr-90Y）；

長(zhǎng)期穩(wěn)定性

重復(fù)性：儀器連續(xù)通電8小時(shí)，探測(cè)效率變化＜±10％；

本底穩(wěn)定性：在8小時(shí)的測(cè)量時(shí)間內(nèi)，本底計(jì)數(shù)變化應(yīng)在(Nb±3σ)的范圍內(nèi),其中Nb為本底計(jì)數(shù)的平均值，σ為本底計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差。

儀器靈敏度：α≥5×10-3Bq；β≥1×10-2Bq

耐壓絕緣度＞1500V；

絕緣電阻≥2MΩ；

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