詳細(xì)分享校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀

　校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀目的是為了確保安全生產(chǎn)過(guò)程用于監(jiān)視生產(chǎn)氣體中某種氣體體積濃度的儀器的準(zhǔn)確性，特質(zhì)定本自校規(guī)程?！　”疽?guī)程規(guī)定了紅外線氣體分析儀的技術(shù)要求，校準(zhǔn)設(shè)備，校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)結(jié)果的處理，本規(guī)程僅適用于具規(guī)定范圍內(nèi)的紅外線氣體分析儀的校準(zhǔn)。

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紅外線氣體分析儀的介紹：

基于氣體對(duì)紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用國(guó)際上新的NDIR技術(shù)， 如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室,局部恒溫控制技術(shù)等，實(shí)現(xiàn)不同濃度、不同氣體 （SO2、NOX、CO2、CO、CH4等）的精度連續(xù)檢測(cè)。

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紅外線氣體分析儀的測(cè)量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測(cè)組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準(zhǔn)確檢測(cè)待測(cè)組分的濃度，可采取多種措施，如設(shè)置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進(jìn)入測(cè)量氣室或檢測(cè)器之前就被吸收掉，只讓待測(cè)組分特征吸收波帶的光通過(guò)。

水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產(chǎn)狀態(tài)的變化，預(yù)處理運(yùn)行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會(huì)使進(jìn)入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長(zhǎng)范圍內(nèi)幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當(dāng)兩者的吸收波帶重疊時(shí)，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來(lái)的測(cè)量誤差。因?yàn)檫@些措施對(duì)水分和被測(cè)組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會(huì)隨時(shí)變化，所以很難估計(jì)其對(duì)測(cè)量誤差的影響。減少或降低水分對(duì)待 測(cè)組分的干擾，目前的有效辦法是在預(yù)處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點(diǎn)。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。