紅外線氣體分析儀用途及應(yīng)用范圍：

紅外線氣體分析儀器用于連續(xù)分析CO、CO2、SO2、CH4、NH3等多種氣體在混合物中的含量。該產(chǎn)品為全數(shù)字化處理，在指標(biāo)及功能上均有很大提高。產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，如：化工、石油、冶金等工業(yè)，也可應(yīng)用于環(huán)保、農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生等部門，還可用于科研、學(xué)校、實(shí)驗(yàn)室分析。

1．用于大氣及污染源排放檢測(cè)；

2．用于石油、化工、電站、鋼鐵、焦炭、水泥等工業(yè)過(guò)程控制；

3．用于農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生和科研等領(lǐng)域等。

紅外線氣體分析儀的作用 

紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進(jìn)行的氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;I0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射度;K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);C--待分析組分的氣體濃度;L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出:通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。

紅外線氣體分析儀的測(cè)量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測(cè)組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準(zhǔn)確檢測(cè)待測(cè)組分的濃度，可采取多種措施，如設(shè)置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進(jìn)入測(cè)量氣室或檢測(cè)器之前就被吸收掉，只讓待測(cè)組分特征吸收波帶的光通過(guò)。

水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產(chǎn)狀態(tài)的變化，預(yù)處理運(yùn)行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會(huì)使進(jìn)入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長(zhǎng)范圍內(nèi)幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當(dāng)兩者的吸收波帶重疊時(shí)，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來(lái)的測(cè)量誤差。因?yàn)檫@些措施對(duì)水分和被測(cè)組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會(huì)隨時(shí)變化，所以很難估計(jì)其對(duì)測(cè)量誤差的影響。減少或降低水分對(duì)待 測(cè)組分的干擾，目前的有效辦法是在預(yù)處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點(diǎn)。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。