UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)是純凈的，同時(shí)具有杰出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。系統(tǒng)在120-180nm波段透光效率，運(yùn)行成本很低。

的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與UV-PLUS概念相結(jié)合，能夠同時(shí)以高達(dá)9pm的光譜分辨率記錄120-800nm波段的全部一級(jí)光譜圖。這一核心技術(shù)奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基礎(chǔ)。

適合分析材料：黑色金屬、有色屬、稀土金屬無機(jī)物、礦石、陶瓷等物質(zhì)

應(yīng)用領(lǐng)域：冶金、機(jī)械、商檢、科研、化工等行業(yè)中

特點(diǎn)：準(zhǔn)確、快速、靈敏度高的特點(diǎn)

高低碳硫含量均使用技術(shù)指標(biāo)：（1）測(cè)量范圍:0.1g~0.5g碳Carbon0.00002%~15%(上限可擴(kuò)展至100%)硫Sulfur0.00002%~5%（2）小讀數(shù):0.00001%（3）儀器精度:碳1ppm或RSD￡0.5%硫1ppm或RSD￡1.0%（4）分析時(shí)間:20-40秒（5）電子天平稱量范圍:0.001g~100g 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

德國(guó)斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測(cè)（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測(cè)的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測(cè)等離子體儀器的數(shù)倍，性能價(jià)格比優(yōu)異。

SPECTRO的垂直同步雙觀測(cè)（DSOI）方式，使用兩個(gè)光學(xué)接口捕獲來自垂直等離子體的發(fā)射光，使得微弱信號(hào)的檢測(cè)能力大幅提升，同時(shí)又允許高濃度、重基體進(jìn)樣。進(jìn)一步降低了記憶效應(yīng)和污染風(fēng)險(xiǎn)。測(cè)試尖銳或線狀材料時(shí)，應(yīng)注意保護(hù)測(cè)試窗口，防止被測(cè)樣品進(jìn)入測(cè)試腔體，損壞檢測(cè)器鈹窗。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測(cè)系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測(cè)結(jié)構(gòu)的復(fù)雜缺點(diǎn)和降低了用戶使用成本。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀維修必學(xué)的準(zhǔn)則

“先軟后硬”，先檢查軟件程序運(yùn)行是否正常，再分析硬件運(yùn)行是否有問題。隨著科學(xué)技術(shù)水平的發(fā)展，電腦在光譜儀中應(yīng)用，使儀器的檢測(cè)水平大幅度的提高，功能更趨近于智能化，許多故障都是通過電腦自帶的故障診斷程序，進(jìn)行綜合全的檢測(cè)，如當(dāng)儀器顯示真空不良、溫度異常、壓力異常、無積分信號(hào)、通訊中斷等顯示時(shí)，我們必須是在此基礎(chǔ)之上，順藤摸瓜沿電腦指示的異常信息，去檢查所對(duì)應(yīng)的硬件，這樣可以很快的找到故障的根源，縮短維修時(shí)間，提高工作效率。UV-PLUS專利光學(xué)系統(tǒng)：SPECTROLAB的光學(xué)系統(tǒng)集合了兩種檢測(cè)器的優(yōu)勢(shì)：光電倍增管和CCD檢測(cè)器。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制