大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

根據(jù)測量原理，涂層厚度計(jì)通常有五種類型：

1、磁性厚度測量：適用于測量磁性材料上非磁性層的厚度。一般來說，磁性材料是滄州甌鋼、鐵、銀和鎳。

2、渦流厚度測量：適用于測量導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層的厚度。這種方法比磁厚度測量精度低。

3、超聲波厚度測量：目前國內(nèi)尚沒有用這種方法測量涂層厚度。國外一些廠家也有這種儀器，多層涂敷厚度測量的應(yīng)用是上述兩種方法無法測量的情況。但一般價(jià)格昂貴，測量精度不高。

4、電解厚度測量方法：此方法不同于上述三種，不屬于NDT，需要破壞涂層。一般精度不高。

膜厚測量儀校準(zhǔn)方式

儀器較零

1.測量鐵基上的探針壓力（或沒有涂層測量體）。滄州歐洲頻譜，并按下零鍵零到零。壓零鍵時(shí)，不要將測量探頭搖晃在鐵基上。同時(shí)，我們必須注意，只有在按下零鍵之后才能拾起探頭，否則，校準(zhǔn)誤差是不正確的。

2.取測量探頭（或不加測量體上的涂層），觀察鐵基體上的測量值，如果測量值接近0，則顯示零校正成功，否則將獲得新零。